Краткий анализ принципов и применения ДИК в металлографических микроскопах.

Feb 02, 2024

Оставить сообщение

Краткий анализ принципов и применения ДИК в металлографических микроскопах.

 

Когда все занимаются наблюдением с помощью металлографического микроскопа, существует метод наблюдения, называемый методом дифференциально-интерференционного контраста, также называемый методом наблюдения DIC. Это относительно продвинутый метод, который в настоящее время используется только в оборудовании иностранных марок. Конкретный принцип заключается в следующем: Внедрите это.


Компоненты, необходимые для металлографического микроскопа: поляризатор, анализатор, дифференциально-интерференционный ДИК-чип (из ледникового камня).


Поляризаторы и анализаторы являются незаменимыми основными вспомогательными компонентами при наблюдении металлографических образцов в ортогональном поляризованном свете. Они собраны в блок освещения светлого/темного поля и также являются незаменимыми компонентами метода дифференциально-интерференционного контраста. Поляризатор металлографического микроскопа превращает источник света в линейно поляризованный свет, который колеблется в направлении восток-запад; анализатор может создавать помехи когерентному свету, соответствующему условиям интерференции.


Дифференциально-интерференционная ДИК-пластина металлографического микроскопа является основным компонентом метода дифференциально-интерференционного контраста. Его толщина меняется незначительно, вызывая небольшие изменения оптического пути или разности оптических путей и создавая очевидный эффект интерференционного контраста;


Применение дифференциально-интерференционных пластин DIC в металлографических микроскопах:
Наблюдая за рельефно выступающими на поверхности предмета частицами, трещинами, отверстиями и выпуклостями, вы сможете сделать правильные суждения.
Требования к поверхности некоторых заготовок снижены. Пока полировка не требует коррозии, можно увидеть рельеф фазового превращения мартенсита.


Наблюдайте за некоторыми изменениями поверхностных частиц, например, за кондуктивными ионами и т. д.
Я полагаю, что благодаря приведенному выше объяснению каждый имеет определенное понимание принципа и применения дифференциально-интерференционных листов DIC в металлографических микроскопах.

 

2 Electronic Microscope

Отправить запрос