Анализ оптических неисправностей микроскопов
Двойные изображения микроскопа не перекрываются. При бинокулярном наблюдении иногда может наблюдаться явление несовпадения двух изображений. Возникновение несовпадения двух изображений не имеет значения, связано ли это с несогласованной компенсацией длин двух стволов. Существенная разница в увеличении между двумя окулярами обусловлена тремя причинами: перемещением бинокулярной призмы, вызванным вибрациями при использовании или транспортировке. По первым двум причинам они калибруются и выбираются на заводе, и их можно решить, обращая внимание на методы и соответствие во время использования.
Третья причина использования микроскопов довольно распространена. В это время следует открыть корпус бинокля, положить на платформу крестовую линейку, а в левый и правый тубусы для наблюдения вставить делительные окуляры 10Х. Положение и угол бинокулярных призм следует корректировать, а при повороте бинокулярных окуляров на разные углы для наблюдения положение крестовой линейки должно находиться в одном и том же положении в поле зрения левого и правого окуляров, а затем прочно фиксироваться.
При наблюдении в бинокулярный микроскоп иногда могут возникать несоответствия яркости и цвета между левым и правым полями зрения, что может повлиять на качество наблюдения. Это связано с повреждением спектральной пленки призмы. В этом случае призму следует снять и отправить производителю микроскопа для повторного покрытия перед сборкой и использованием.
Характеристики и применение темнопольного освещения микроскопа
Темнопольное освещение микроскопа улучшает фактическое разрешение и контрастность микроскопа.
В темном поле используется косое освещение, полностью использующее угол апертуры объектива, а контраст темной матрицы хороший, что улучшает фактическое разрешение.
Например, при наблюдении образца, содержащего перлит, в светлом поле обнаруживается множество слоев перлита, которые объективу трудно различить из-за их крупности. При преобразовании в темнопольное освещение многослойные изображения в одной и той же области становятся отчетливо видны, что указывает на то, что фактическое разрешение объектива в темном поле улучшилось.
Кроме того, в стали имеется множество ультрамелких частиц, которые невозможно идентифицировать в светлом поле, а некоторые можно увидеть как слабые точки. Но если использовать микроскоп Olympus для темнопольного освещения, то за счет устранения яркого фона, вызванного рассеянным светом этих частиц, контраст дифракционного изображения этих частиц усиливается. На темной матрице можно увидеть множество маленьких ярких пятен, а некоторые даже имеют разные цвета, что делает маленькие точки четкими и различимыми. Точно так же, как мы видим звезды ночью, хотя мы и не можем различить детали этих частиц, мы можем обнаружить их присутствие.
