Структура системы атомно-силовой микроскопии (АСМ)
1. Раздел обнаружения силы:
В системе атомно-силовой микроскопии (АСМ) регистрируемая сила представляет собой силу Ван-дер-Ваальса между атомами. Итак, в этой системе кантилевер используется для обнаружения изменений силы между атомами. Этот микрокантилевер имеет определенные характеристики, такие как длина, ширина, коэффициент упругости и форма кончика иглы, и выбор этих характеристик основан на характеристиках образца и различных режимах работы, а также выбираются разные типы зондов.
2. Раздел определения положения:
В системе атомно-силовой микроскопии (АСМ) при взаимодействии кончика иглы с образцом кантилевер кантилевера будет качаться. Следовательно, когда лазер облучается на конце кантилевера, положение отраженного света также будет меняться из-за качания кантилевера, что приводит к возникновению смещения. Во всей системе детектор положения лазерного пятна используется для регистрации смещения и преобразования его в электрический сигнал для обработки сигнала контроллером СЗМ.
3 Система обратной связи:
В системе атомно-силового микроскопа (АСМ) после того, как сигнал принимается лазерным детектором, он используется в качестве сигнала обратной связи в системе обратной связи в качестве внутреннего сигнала регулировки и приводит в движение сканер, обычно изготовленный из пьезоэлектрических керамических трубок. соответствующим образом, чтобы поддерживать соответствующую силу между образцом и кончиком иглы.
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) объединяет три вышеупомянутые части для представления характеристик поверхности образца: в системе АСМ используется крошечный кантилевер для определения взаимодействия между кончиком иглы и образцом. Эта сила заставит кантилевер раскачиваться, а затем лазер облучает конец кантилевера. Когда образуются качели, положение отраженного света изменится, вызывая смещение. В это время лазерный детектор зарегистрирует это смещение, а также предоставит сигнал системе обратной связи, чтобы облегчить соответствующую настройку системы. Наконец, характеристики поверхности образца будут представлены в виде изображения.
