Классификация специальных объективов для металлографического микроскопа
Специальные объективы разрабатываются и производятся специально для достижения определенных эффектов наблюдения, в основном включая следующие:
1. Корректирующий совместный объектив: в середине объектива установлено кольцеобразное регулировочное кольцо. При вращении регулировочного кольца расстояние между группами линз внутри объектива можно отрегулировать, чтобы скорректировать разницу в освещении, вызванную нестандартной толщиной покровного стекла. Шкала на регулировочном кольце может находиться в диапазоне от 0.11 до. 023, и этот номер также указан на внешней оболочке объектива, указывая, что погрешность покровного стекла можно исправить в диапазоне от 0.11 до толщины 0,23 мм.
2. Объектив с ирисовой диафрагмой: верхняя часть корпуса объектива оснащена ирисовой диафрагмой, а внешняя сторона также может вращать регулировочное кольцо для регулировки размера апертуры диафрагмы. Этот тип объектива представляет собой объектив с масляной иммерсией, который используется для снижения качества контроля, когда фон поля зрения недостаточно темный во время контроля в темном поле. На этом этапе отрегулируйте размер апертуры, чтобы затемнить фон, сделать проверяемый объект ярче и усилить эффект зеркального осмотра.
3. Фазово-контрастный объектив. Этот тип объектива представляет собой специализированный объектив, используемый для фазово-контрастной микроскопии, характеризующийся наличием фазовой пластинки в задней фокальной плоскости объектива.
4. Объектив без покрытия. Некоторые объекты нельзя накрыть покровным стеклом, поэтому во время микроскопии следует использовать объектив без покрытия, иначе качество изображения значительно ухудшится, особенно при микроскопии с высоким увеличением. Внешняя оболочка этого объектива часто маркируется буквой NC, и на месте толщины покровного стекла нет буквы 0.17, но имеется маркировка «0».
5. Объектив с большим рабочим расстоянием: этот тип объектива имеет фокусное расстояние больше, чем у обычных объективов, и предназначен для проверки жидких материалов (высокотемпературная металлография), жидких кристаллов, тканевых культур, суспензий и других материалов. .
