+86-18822802390

Свяжитесь с нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Электронная-почта:admin@gvda-instrument.com

  • Ватсап: 8618822802390

  • Добавить: комната 610-612, коммерческое здание Хуачуанда, район 46, улица Цуйчжу, улица Синьань, Баоань, Шэньчжэнь.

Распространенные методы измерения для универсального инструментального микроскопа

Oct 13, 2024

Распространенные методы измерения для универсального инструментального микроскопа

 

1. Метод ножевой кромки и метод резки вала:
Метод ножевой кромки и метод осевой резки — это оптические и механические методы, которые в основном измеряют осевое сечение резьбы. Этот метод также можно использовать для измерения цилиндрических, конических и плоских образцов, поскольку погрешность настройки минимальна и не зависит от внешних факторов. Например, влияние могут оказать неровные края, закрытие фасок и другие факторы. Условием использования этого метода измерения является то, что образец должен иметь гладкую и прямую измерительную поверхность, а измерительный нож следует прикладывать к образцу вручную, соприкасаясь с образцом на плоскости измерения. Для круглых деталей эта плоскость измерения касается оси вращения, а тонкая линия, параллельная краю лезвия, представляет собой осевое сечение образца. Совместите опорную линию окуляра с тонкой линией, используя измерение угла. Край неизношенного лезвия соприкасается с осью совмещения перекрестия в поле зрения. При измерении нет необходимости учитывать расстояние от тонкой линии до края лезвия. Только при измерении с изношенным лезвием из значения измерения требуется вычесть погрешность лезвия. Следует отметить, что пыль и остатки жидкости на проверяемой поверхности могут стать причиной ошибок при проверке положения полотна по световому зазору. Высота пэда и инструмента предварительно согласована и не может быть отрегулирована неправильно. Перед использованием его следует очистить.


2. Теневой метод:
Теневой метод – это чисто оптический метод, позволяющий быстро настроить инструмент, выровнять контур образца и сравнить его форму. Этот метод измерения требует, чтобы образец был помещен на восходящем оптическом пути и в пределах свободного диапазона юстировочного микроскопа, чтобы получить теневое изображение образца. Теневое изображение круглой заготовки представляет собой контурную тень осевой плоскости, а теневое изображение плоского образца определяется его краями. Измерьте, используя вращающийся окуляр и окуляр для измерения угла так, чтобы выгравированная линия на окуляре касалась тени. При сравнении формы образца с формой, нарисованной самостоятельно, можно использовать проекционное устройство для наблюдения обоими глазами.


3. Метод отражения:
Метод отражения также является оптическим контактным методом. Особенностью метода отражения является то, что с его помощью можно измерять края и отметки, такие как линии, отверстия для образцов и т. д. Этот метод также позволяет сравнивать формы, используя выгравированную линейную графику вращающегося окуляра. Плоскость измерения определяется на основе прозрачной плоскости микроскопа, и этот метод измерения в основном используется для плоских образцов. При измерении линий и пуансонов используйте окуляр для измерения угла. При измерении края отверстия используйте окуляр с двойным изображением. При сравнении фигур используйте вращающийся окуляр.


4. Метод рычага микрометра.
Метод рычага микрометра используется для измерения поверхностей, которые невозможно выровнять оптическими методами, таких как отверстия, различные криволинейные поверхности и винтовые поверхности. Особенно важно отметить, что диаметр измерительной головки также должен быть включен в результаты измерений при контакте с относительными направлениями или изогнутыми поверхностями. Для специальных измерений рекомендуется изготовить подходящие контактные стержни. Сферическую измерительную головку определенного диаметра можно использовать для проверки кривой качения, а заостренную измерительную головку используют для проверки винтовой поверхности внутри определенной измерительной поверхности. Головка для измерения формы лопаток используется для измерения проекций поперечных сечений и пространственных кривых только по двум координатным осям.

 

2 Electronic Microscope

Отправить запрос