Общие методы наблюдения для оптических микроскопов
Оптический микроскоп — это оптический инструмент, который использует свет в качестве источника света для увеличения и наблюдения крошечных структур, невидимых невооруженным глазом* Первые микроскопы были изготовлены оптиками в 1604 году.
За последние двадцать лет ученые обнаружили, что оптические микроскопы можно использовать для обнаружения, отслеживания и изображения объектов, длина волны которых меньше половины длины волны традиционного видимого света или нескольких сотен нанометров.
В связи с тем, что оптические микроскопы традиционно не использовались для изучения наномасштабов, им часто не хватает калибровочных сравнений со стандартами, чтобы проверить правильность результатов и получить точную информацию в этом масштабе. Микроскопы могут точно и последовательно указывать одно и то же положение отдельных молекул или наночастиц. Однако в то же время оно может быть весьма неточным, поскольку положение объекта, идентифицированного микроскопом, в пределах миллиардной метра на самом деле может составлять одну миллионную долю метра, поскольку ошибок нет.
Оптические микроскопы широко распространены в лабораторных приборах и могут легко увеличивать различные образцы, от деликатных биологических образцов до электрического и механического оборудования. Точно так же оптические микроскопы становятся все более функциональными и экономически эффективными, поскольку они сочетают в себе научные версии освещения и камер в смартфонах.
Общие методы наблюдения для оптических микроскопов
Метод наблюдения дифференциальных помех (DIC)
принцип
С помощью специально разработанной призмы поляризованный свет разлагается на лучи одинаковой интенсивности и перпендикулярно друг другу. Лучи проходят через объект в очень близких точках (меньше разрешения микроскопа), что приводит к небольшим различиям в фазе, что придает изображению трехмерное ощущение.
характеристика
Это может заставить проверяемый объект создавать трехмерное ощущение и наблюдать эффект более интуитивно. Никакого специального объектива не требуется, он лучше сочетается с наблюдением флуоресценции и может регулировать изменения цвета фона и объектов для достижения идеальных результатов.
Метод наблюдения в темном поле
Темное поле зрения на самом деле представляет собой темное поле освещения. Его характеристики отличаются от яркого поля зрения, при котором он не наблюдает непосредственно свет освещения, а вместо этого наблюдает отраженный или преломленный свет проверяемого объекта. Таким образом, поле зрения представляет собой темный фон, а исследуемый объект представляет собой яркое изображение.
Принцип темного поля зрения основан на оптическом явлении Тиндалла, при котором мелкая пыль не может наблюдаться человеческим глазом под прямыми солнечными лучами, что вызвано дифракцией сильного света. Если свет направлен к нему под углом, частицы увеличиваются в объеме и становятся видимыми для человеческого глаза из-за отражения света. Специальным аксессуаром, необходимым для наблюдения в темном поле, является конденсор темного поля. Его особенностью является не пропускать световой луч через обследуемый объект снизу вверх, а изменять траекторию светового луча, делая его наклонным к досматриваемому объекту, чтобы свет освещения не попадал непосредственно в линзу объектива, и использует яркое изображение, формируемое отраженным или преломленным светом на поверхности досматриваемого объекта. Разрешение наблюдения в темном поле намного выше, чем разрешение наблюдения в светлом поле, достигая 0.02-0.004 мкм.
