Разница между электронным микроскопом и металлургическим микроскопом
Первый в мире электронный микроскоп был построен в Берлине в 1931 г. М. Кнойлом и Э. Раском путем адаптации съемного высокоскоростного осциллографа с теневой трубкой с тремя линзами, просвечивающего электронного микроскопа с использованием источника электронов с холодным катодом, а в 1934 г. М. Кнойла и Э. Раск увеличили разрешение до 500 Å. Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), сокращенно СЭМ, представляет собой сложную систему, объединяющую электронно-оптические методы, вакуумные методы и тонкие механические структуры.
Сканирующий электронный микроскоп (сканирующий электронный микроскоп), сокращенно СЭМ, представляет собой сложную систему; конденсированные электронно-оптические технологии, вакуумные технологии, тонкая механическая структура и современные технологии компьютерного управления. СЭМ – это ускоренное высоковольтное воздействие электронной пушки, испускаемое электроном через многоступенчатую электромагнитную линзу, сходящимся в небольшой пучок электронов. Сканирование поверхности образца, возбуждение различной информации посредством приема этой информации, усиление и отображение изображения для анализа поверхности образца. Взаимодействие падающих электронов с образцом дает информацию, показанную на рисунке 1. Двумерное распределение интенсивности этой информации варьируется в зависимости от характеристик поверхности образца (эти характеристики включают морфологию поверхности, состав, ориентацию кристаллов, электромагнитные свойства). и т.д.), представляет собой различные детекторы для сбора информации в нужном порядке, соотношение информации, преобразуемой в видеосигнал, а затем передаваемой при одновременном сканировании кинескопа и модуляции его яркости, позволяет получить ответ на поверхность карты сканирования образца. Если сигнал, полученный детектором, оцифровать и преобразовать в цифровой сигнал, он может быть дополнительно обработан и сохранен на компьютере. Сканирующие электронные микроскопы в основном предназначены для наблюдения за толстыми блоками образцов с большими перепадами высот и грубыми неровностями и, следовательно, предназначены для выявления эффекта глубины резкости и обычно используются для анализа трещин, а также естественных поверхностей, которые не подверглись искусственному лечению.
Электронный микроскоп и металлургический микроскоп
Во-первых, источник света различен: металлургический микроскоп, использующий видимый свет в качестве источника света, сканирующий электронный микроскоп, использующий электронный луч в качестве источника изображения.
Во-вторых, принцип другой: металлургический микроскоп, использующий принцип геометрической оптики для визуализации, сканирующий электронный микроскоп, использующий бомбардировку поверхности образца высокоэнергетическим электронным лучом, возбуждение различных физических сигналов на поверхности образца, а затем использование различных детекторов сигналов для приема физических сигналов, преобразованных в информацию изображения.
В-третьих, разрешение другое: металлургический микроскоп из-за интерференции и дифракции света может быть ограничен только 0.2-0.5um между ними. Сканирующий электронный микроскоп, поскольку в качестве источника света используется электронный луч, разрешение может достигать 1-3 нм, поэтому наблюдение тканей с помощью металлургического микроскопа относится к анализу микронного уровня, наблюдение тканей с помощью сканирующего электронного микроскопа относится к нанометровому уровню. анализ.
В-четвертых, глубина резкости отличается: общая глубина резкости металлургического микроскопа составляет от 2-3 мкм, поэтому к гладкости поверхности образца предъявляются очень высокие требования, поэтому процесс отбора проб относительно сложен. В то время как сканирующий электронный микроскоп имеет большую глубину резкости, большое поле зрения, богатое трехмерное изображение, позволяет напрямую наблюдать различные образцы с неровной микроструктурой поверхности.
