Различия в применении прямых и инвертированных металлографических микроскопов
Разница между вертикальным и перевернутым заключается в том, что вертикальный сэмпл располагается внизу, а перевернутый сэмпл — вверху. Вертикальный объектив направлен вниз, а перевернутый объектив — вверх.
Инвертированный металлографический микроскоп, в связи с тем, что поверхность наблюдения образца совпадает с поверхностью верстака, а объектив наблюдения расположен ниже верстака для наблюдения снизу вверх, такая форма наблюдения не ограничена высотой образца. При подготовке образца только одна поверхность наблюдения является плоской, поэтому ее обычно используют в заводских лабораториях, научно-исследовательских учреждениях и университетах для обучения. Основание инвертированного металлографического микроскопа имеет большую опорную поверхность, низкий центр тяжести, устойчиво и надежно. Окуляр и опорная поверхность наклонены под углом 45 градусов, что делает наблюдение комфортным.
Прямой металлографический микроскоп имеет те же основные функции, что и инвертированный металлографический микроскоп. Помимо анализа и идентификации образцов металла высотой 20-30 мм, он более широко используется в прозрачных, полупрозрачных или непрозрачных материалах, поскольку соответствует повседневным привычкам человека. Вертикальный металлографический микроскоп формирует положительное изображение во время наблюдения, что обеспечивает пользователю большое удобство наблюдения и различения. Помимо анализа и идентификации образцов металла высотой 20-30 мм, объекты наблюдения размером более 3 микрон, но менее 20 микрон, такие как структура поверхности и следы таких материалов, как металлокерамика, электронные чипы, печатные схемы, Подложки ЖК-дисплеев, тонкие пленки, волокна, зернистые объекты, покрытия и т. д. могут иметь хорошие визуальные эффекты.
