Особенности сканирующих зондовых микроскопов
Сканирующая зондовая микроскопия является третьим микроскопом для наблюдения за структурой вещества в атомном масштабе после полевой ионной микроскопии и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Возьмем, к примеру, сканирующий туннельный микроскоп (СТМ), его поперечное разрешение составляет 0,1~0,2 нм, а вертикальное разрешение по глубине - 0,01 нм. Такое разрешение позволяет четко наблюдать отдельные атомы или молекулы, распределенные по поверхности образца. В то же время сканирующий зондовый микроскоп может также проводить наблюдательные исследования в воздухе, других газах или жидких средах.
Сканирующие зондовые микроскопы обладают характеристиками атомарного разрешения, атомного транспорта и нано-микрообработки. Однако из-за различных принципов работы различных сканирующих микроскопов в деталях информация о поверхности образца, отражаемая полученными ими результатами, сильно различается. Сканирующая туннельная микроскопия измеряет информацию о распределении станций электронов на поверхности образца, которая имеет разрешение на атомном уровне, но все еще не может получить истинную структуру образца. Атомный микроскоп обнаруживает информацию о взаимодействии между атомами, поэтому можно получить информацию о расположении атомного распределения на поверхности образца, то есть реальную структуру образца. Но, с другой стороны, атомно-силовой микроскоп не может измерить информацию об электронном состоянии, которую можно сравнить с теорией, поэтому у них есть свои преимущества и недостатки.
