Пять распространенных методов наблюдения микроскопа
1. Метод светлого поля
Метод наблюдения света, отраженного непосредственно от образца. Свет от осветителя падает на образец через вертикально ориентированный объектив, и через объектив наблюдается прямой отраженный от образца свет.
2. Метод темного поля
Соблюдайте методы сушки образцов с использованием дифрагированного света. Свет освещения падает на образец наклонно через периферию линзы объектива, и наблюдается сухой свет от образца, в то время как наблюдается дифрагированный свет.
Идеально подходит для обнаружения небольших царапин или трещин на образцах и проверки зеркальной поверхности образцов, таких как пластины.
3. Метод поляризованного света
Это микроскопический метод наблюдения, в котором используется поляризованный свет, образованный двумя наборами цветных фильтров (поляризатор обнаружения и поляризатор). Эти оси поляризации всегда перпендикулярны друг другу. Некоторые образцы показывают резкий контраст между двумя фильтрами. Или выразить цвет на основе свойств двойного лучепреломления и ориентации (например, полированные образцы цинковых структур). Когда анализатор вставлен в путь прохождения света наблюдения перед окуляром, поляризатор находится в пути прохождения света перед вертикальным осветителем.
Он подходит для наблюдения за металлографической структурой (т. е. способом роста графита в ковком чугуне), минералами, жидкокристаллическими (ЖК) и полупроводниковыми материалами.
4. Метод дифференциально-интерференционного контраста.
Это микроскопический метод наблюдения, который изменяет высоту контраста в стереоскопическое или трехмерное изображение с использованием метода светлого поля, которое нельзя наблюдать с помощью метода светлого поля. Освещение меняется с дифференциально-интерференционной контрастной призмы на два дифрагированных света. Разница в высоте образца, вызванная двумя дифрагированными световыми лучами, создает небольшую разницу в пути света, а разница в пути света становится контрастом между контрастной призмой и анализатором, использующим дифференциальную интерферометрию.
Чувствительные образцы повторно используются для усиления сильно варьирующихся хроматических аберраций.
Он подходит для тестирования образцов с чрезвычайно высокой точностью разности высот, включая металлографические структуры, минералы, магнитные головки, поверхности жестких дисков и шлифованные поверхности пластин.
5. Флуоресцентный метод
Этот метод используется для образцов, которые флуоресцируют.
Он подходит для обнаружения загрязнения пластин, остатков светочувствительной смолы и обнаружения трещин флуоресцентным методом.
