Чем электронный микроскоп отличается от светового с точки зрения наблюдаемых величин?
Оптические микроскопы сильно отличаются от электронных микроскопов тем, что другой источник света, другой объектив, другой принцип изображения, другое разрешение, другая глубина резкости и другой способ подготовки образца. Оптический микроскоп, широко известный как световой микроскоп, представляет собой разновидность видимого света в качестве источника освещения микроскопа. Оптический микроскоп использует оптические принципы, человеческий глаз не может различать мельчайшие объекты при увеличенном изображении, чтобы люди могли извлекать информацию о микроструктуре оптических инструментов. Он широко используется в клеточной биологии. Оптический микроскоп обычно состоит из предметного столика, системы фокусирующего освещения, объектива, окуляра и механизма фокусировки. Сцена используется для удержания объекта наблюдения. Ручка фокусировки может использоваться для привода механизма фокусировки, что позволяет грубо или точно настраивать предметный столик для обеспечения четкого изображения наблюдаемого объекта. Изображение оптического микроскопа для перевернутого изображения (вверх и вниз, перевернутое, левое и правое взаимозаменяемо) Электронный микроскоп - это рождение высокотехнологичной технологической продукции, и мы обычно используем оптический микроскоп, имеющий аналогичное место, но с оптическим микроскоп совсем другой. Прежде всего, оптический микроскоп – это использование источника света. Электронный микроскоп использует электронные лучи, и оба могут видеть результаты разницы, одиночные и говорят, что увеличение разницы, например, при наблюдении за клеткой, световой микроскоп может видеть только клетку и часть органеллы. , таких как митохондрии и хлоропласты, но может видеть только наличие своих клеток, не может видеть конкретную структуру органеллы. С другой стороны, электронный микроскоп позволяет более детально рассмотреть тонкую структуру органелл и даже такие крупные молекулы, как белки. Электронный микроскоп включает в себя просвечивающий электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп, отражательный электронный микроскоп и эмиссионный электронный микроскоп. Среди них более широкое распространение получил сканирующий электронный микроскоп. Сканирующий электронный микроскоп при анализе материалов и исследовательских приложениях очень широк, в основном используется для анализа разрушения материала, анализа состава микрообластей, разнообразного анализа морфологии поверхности покрытия, измерения толщины слоя и морфологии микроструктуры, а также анализа наноматериалов. в сочетании с рентгеновским дифрактометром или электронным спектрометром, составляющим электронный микрозонд, используемый для анализа состава материала и так далее. Сканирующий электронный микроскоп, сокращенно SEC, представляет собой новый тип электронно-оптического прибора. Он состоит из вакуумной системы, системы электронного луча и системы визуализации. Он использует тонко сфокусированный пучок электронов для модуляции физических сигналов, которые возбуждаются при сканировании поверхности образца. Падающие электроны вызывают возбуждение поверхности образца вторичными электронами. Именно эти рассеянные электроны в каждой точке наблюдаются в микроскоп. Сцинтилляционный кристалл, расположенный рядом с образцом, получает эти вторичные электроны, которые усиливаются, модулируя интенсивность электронного луча ЭЛТ, изменяя яркость экрана ЭЛТ. Отклоняющая катушка ЭЛТ синхронизируется с электронным лучом на поверхности образца, так что на флуоресцентном экране ЭЛТ отображается топографическое изображение поверхности образца. Он отличается простой пробоподготовкой, регулируемым увеличением, широким диапазоном, высоким разрешением изображения и большой глубиной резкости. Производительность применения просвечивающего электронного микроскопа:
1, анализ дефектов кристалла. Все структуры, нарушающие нормальный цикл массива, в совокупности называются дефектами кристалла, такими как вакансии, дислокации, границы зерен, выделения и так далее. Эти структуры, нарушающие периодичность точечной матрицы, приведут к изменению условий дифракции области, в которой они расположены, делая условия дифракции области, в которой расположены дефекты, отличными от условий дифракции нормальной области, который покажет соответствующую разницу между светом и темнотой на флуоресцентном экране.
2, анализ тканей. В дополнение к различным дефектам могут создаваться различные дифракционные картины, с помощью которых можно анализировать структуру и ориентацию кристалла, наблюдая при этом морфологию ткани.
3, наблюдение на месте. Используя соответствующий предметный столик, можно проводить эксперименты in-situ в просвечивающем электронном микроскопе. Например, использование растяжения образцов для наблюдения за процессом их деформации и разрушения.
4, микроскопия высокого разрешения. Улучшение разрешения, чтобы лучше наблюдать за микроструктурой материала, было целью, к которой люди постоянно стремились. Электронная микроскопия высокого разрешения с использованием изменения фазы электронного луча на более чем два луча когерентного изображения, в условиях электронного микроскопа разрешение достаточно высокое, чем больше электронных лучей используется, тем выше разрешение изображения, и даже может быть используется для тонких образцов визуализации атомной структуры.
