Как увеличение наблюдения стереомикроскопа соответствует различным требованиям?
Стереомикроскопы используются для трехмерного контроля и наблюдения за электронными деталями, интегральными платами, вращающимися инструментами, магнитами и т. д. Учитывая тот факт, что эти разные измеряемые объекты необходимо наблюдать при разном увеличении, как адаптироваться к этим различным требованиям? ? Эту проблему можно решить во многих аспектах: а. Эту проблему можно решить с помощью оптических свойств; б. Можно выбрать видеонаблюдение; в. Эту проблему можно решить с помощью механических свойств; д. Он может быть освещен источником света.
Оптические характеристики: в соответствии с требованиями к наблюдению измеряемого объекта такие проблемы, как большое увеличение и большое поле зрения, могут быть решены путем выбора различных окуляров/объективов. Если требуется только большое увеличение, вы можете заменить окуляр и объектив с большим увеличением. Если вам требуется широкое поле зрения, вы можете удовлетворить это требование, заменив объектив, уменьшив размер окуляра или перейдя на окуляр с широким полем зрения.
Видеонаблюдение: если оптического увеличения недостаточно, для компенсации можно использовать электронное увеличение. Когда вы одновременно наблюдаете и хотите иметь возможность хранить и сохранять, мы можем выбрать видео. Есть много способов видео: А. Можно прямо через монитор. B. Его можно подключить к компьютеру (через цифровую ПЗС-матрицу или аналоговую карту захвата изображения ПЗС-матрицы). C. Его можно подключить к цифровой камере (разные цифровые камеры должны учитывать разные интерфейсы и совместимость с микроскопом.)
Механические свойства: когда мы сталкиваемся с некоторыми областями сварки, сборки, проверки больших интегральных плат и требований к рабочему расстоянию, мы можем решить проблему с помощью механических свойств, таких как универсальные кронштейны, кронштейны коромысла, большие мобильные платформы и т. д. Благодаря их эксплуатационным характеристикам , при обнаружении крупных объектов наши работы по проверке могут быть выполнены непосредственно через кронштейн и платформу. Перемещать наш измеряемый объект нет необходимости. Например: Компания А, поскольку проверяемая печатная плата относительно велика и требует тонкого наблюдения за наклоном, ее трудно перемещать, и работу по проверке можно выполнить только посредством механического перемещения. Использование универсального кронштейна может одновременно удовлетворить эти требования использования.
Освещение источника света: Освещенность источника света играет жизненно важную роль в том, будет ли четко виден измеряемый объект. При выборе освещения необходимо исходя из характеристик измеряемого объекта (необходимо учитывать его требования к освещенности, сильная\слабая\отражающая способность и т.д.) ) подбирать соответствующие осветительные средства и способы освещения. Если просвечивающее и наклонное освещение, поставляемое с обычными стереомикроскопами, не может удовлетворить ваши потребности в освещении, мы также подготовили для вас светодиодные лампы с источниками холодного света, круглые светильники, лампы с одинарными или двойными оптоволоконными источниками холодного света и т. д.
