Что вы знаете об атомно-силовой микроскопии?
Основной принцип атомно-силовой микроскопии (АСМ) заключается в том, что расположение атомов на поверхности образца дает «вогнутость и вогнутость». Когда зонд сканирует в горизонтальном направлении, расстояние между кончиком иглы и поверхностью образца будет изменяться в вертикальном направлении. Из теории физики твердого тела известно, что когда кончик зонда находится очень близко к поверхности образца, между ними возникает межатомная сила. Изменение вертикального расстояния между острием иглы и поверхностью образца приводит к изменению межатомной силы между острием иглы и поверхностью образца. Изменение межатомной силы заставляет кантилевер вибрировать в вертикальном направлении. Следовательно, изменение межатомной силы между кончиком иглы и поверхностью образца можно обнаружить, используя отклонение лазерного луча. Сигнал отклонения лазерного луча вводится в компьютер для обработки, и может быть получена информация о поверхности образца. Пьезоэлектрический материал устанавливается под поверхностью образца для приема сигнала обратной связи, выводимого компьютером, и регулировки высоты поверхности образца для защиты наконечника зонда.
Поскольку атомно-силовой микроскоп основан на теории межатомных сил, поверхность исследуемого образца простирается от проводников и полупроводников до области изоляторов, а его латеральное разрешение может достигать 0.101нм. В настоящее время, в зависимости от контакта между наконечником зонда и поверхностью образца, контактные формы атомно-силового микроскопа делятся на контактный тип (тип C), бесконтактный тип (тип NC) и тип прерывистого контакта (тип IC). ).
