+86-18822802390

Свяжитесь с нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Электронная-почта:admin@gvda-instrument.com

  • Ватсап: 8618822802390

  • Добавить: комната 610-612, коммерческое здание Хуачуанда, район 46, улица Цуйчжу, улица Синьань, Баоань, Шэньчжэнь.

Методы визуализации светлого-поля и темного-поля во флуоресцентной микроскопии

Jul 06, 2025

Методы визуализации светлого-поля и темного-поля во флуоресцентной микроскопии

 

(1) Метод визуализации в светлом поле (BFI), который позволяет прошедшему электронному лучу проходить через апертуру объектива только в параксиальной области, формируя темное изображение на ярком фоне. Чем меньше апертура объектива, тем больше контраст светлопольного изображения; (2) Визуализация в темном поле (DFI) — это метод, который позволяет только части рассеянного под большим углом луча или определенному дифракционному лучу кристалла проходить через апертуру объектива, блокируя при этом проходящий луч. При этом формируется яркое графическое изображение на темном фоне. Этот метод визуализации в темном поле может улучшить контрастность изображений и является важным методом визуализации.


Существует примерно четыре метода получения темнопольных изображений с помощью флуоресцентных микроскопов Leica: (1) поддержание вертикального освещения вдоль оптической оси при перемещении апертуры объектива; (2) Использование наклонного освещения для захвата рассеянных лучей в направлении оптической оси называется визуализацией в центральном темном поле (CDFI); (3) Апертура объектива с центральным ограничителем луча и круглой прозрачной зоной; (4) Используйте круглую прозрачную конденсорную линзу для светочувствительности и центральную круглую апертуру для объектива. Метод * здесь самый простой, но он использует электронную визуализацию дистальной области рукава, поэтому аберрация велика, а качество изображения не очень хорошее. Второй метод позволяет избежать вышеуказанных недостатков, но апертура объектива флуоресцентного микроскопа Leica принимает только небольшую часть рассеянных дифрагированных электронов, что приводит к снижению эффективности. Сторона апертуры часто подвергается сильной бомбардировке электронами, что может легко вызвать асимметричное загрязнение и повлиять на качество изображения. Кольцевая линза объектива была улучшена в этом аспекте, но ее недостатком является то, что ее трудно изготовить и трудно достичь полной осевой симметрии. Учитывая относительно мягкие требования к системе освещения, можно принять последнее решение, которое включает добавление кольцевой апертуры в конденсаторе для обеспечения освещения образца полым лучом. Эффект от этого устройства. Разрешение его изображения может быть близко к разрешению изображений в светлом поле, а контрастность значительно улучшена.

 

3 Continuous Amplification Magnifier -

Отправить запрос