Введение в функции сканирующего зондового микроскопа
Сканирующий зондовый микроскоп (сканирующий зондовый микроскоп, СЗМ) представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и сканирующий туннельный микроскоп на основе разработки ряда новых зондовых микроскопов (атомно-силовой микроскоп АСМ, лазерный силовой микроскоп ЛФМ, магнитно-силовой микроскоп МСМ и и так далее) в совокупности, это международное развитие поверхности аналитических инструментов в последние годы, это комплексное использование технологий оптоэлектроники, лазерных технологий, технологий обнаружения слабых сигналов, прецизионного механического проектирования и обработки, технологии автоматического управления, технологии цифровой обработки сигналов. , прикладные оптические технологии, компьютерные высокоскоростные методы сбора и управления, технологии графической обработки высокого разрешения и другие современные научно-технические достижения оптической, механической и электрической интеграции высокотехнологичных продуктов. Этот новый тип микроскопического инструмента имеет очевидные преимущества по сравнению с различными микроскопами и аналитическими инструментами прошлого:
1, СЗМ имеет очень высокое разрешение. Он легко «увидит» атом, чего трудно достичь в обычном и даже электронном микроскопе.
2, СЗМ - это изображение с высоким разрешением в режиме реального времени, реальная поверхность образца, действительно можно увидеть атом. В отличие от некоторых аналитических инструментов, структура поверхности образца определяется косвенными или вычислительными методами.
3. SPM используется в спокойной обстановке. Электронный микроскоп и другие инструменты, предъявляющие более строгие требования к рабочей среде, для проведения испытаний образец должен быть помещен в условия высокого вакуума. СЗМ может работать в вакууме, а также в атмосфере, при низкой температуре, комнатной температуре, высокой температуре и даже в растворе. Таким образом, СЗМ подходит для научных экспериментов в различных рабочих условиях.
