Увеличение наблюдения стереомикроскопа
Как адаптироваться к различным требованиям, наблюдая за увеличением стереоскопического микроскопа
Нательный микроскоп используется для трехмерного осмотра и наблюдения электронных компонентов, интегральных плат, вращающихся режущих инструментов, магнитов и т. д. Как адаптироваться к этим различным требованиям, основанным на необходимости наблюдать объекты в разных кратностях? Ее можно решить с помощью нескольких аспектов. а. Этого можно достичь за счет оптических характеристик. б. Его можно выбрать для видеонаблюдения. в. Этого можно достичь за счет механических характеристик. д. Его можно подсветить с помощью источника света.
Оптические характеристики: в соответствии с требованиями к наблюдению измеряемого объекта выбираются различные окуляры/объективы для решения таких проблем, как большое увеличение и большое поле зрения. Если требуется только большое увеличение, окуляр большого увеличения и объектив можно заменить. Если требуется большое поле зрения, объектив можно заменить или уменьшить в соответствии с требованиями.
Видеонаблюдение: если оптического увеличения недостаточно, для компенсации можно использовать электронное увеличение. Наблюдая одновременно и надеясь сохранить и сохранить, мы можем выбирать видео. Существуют различные методы видеосъемки: A. Его можно напрямую подключить к монитору B. Его можно подключить к компьютеру (через цифровую ПЗС-матрицу или аналоговую карту получения изображения ПЗС-матрицы) C. Его можно подключить к цифровой камере (различные цифровые камеры должны учитывать разные интерфейсы и совместимость с микроскопом)
Механические характеристики: при сварке, сборке, проверке больших интегральных плат и требованиях к рабочему расстоянию мы можем решить эти проблемы с помощью механических характеристик, таких как универсальные опоры, опоры коромысла, большие мобильные платформы и т. д. Используя их производительность. характеристики, наши работы по обнаружению могут выполняться непосредственно через кронштейны и платформы при обнаружении крупных объектов. Перемещать наш измеряемый объект нет необходимости. Например, компания ABB испытывает трудности с перемещением печатной платы из-за ее большого размера и необходимости наблюдения за небольшим наклоном, и может завершить работу по тестированию только посредством механического перемещения. Функция универсальной поддержки может одновременно удовлетворить эти требования использования.
Освещение источника света. Освещение источника света играет решающую роль в обеспечении четкой видимости тестируемого объекта. При выборе освещения необходимо выбирать соответствующие осветительные средства и способы освещения исходя из характеристик испытуемого объекта (учитывая его требования к свету, например сильный/слабый/отражающий).
