Принцип измерения и соответствующая технология люксметра
Принцип измерения люксметра: люксметр (или люксметр) – это специальный прибор для измерения освещенности. Он заключается в измерении степени освещенности объекта, то есть отношения светового потока, полученного на поверхности объекта, к освещаемой площади. Измеритель освещенности обычно состоит из селенового фотогальванического элемента или кремниевого фотогальванического элемента с фильтром и микроамперметром.
Калибровка освещенности:
Принцип калибровки:
Пусть Ls облучает фотоэлемент вертикально → E=I/r2, изменяет r, чтобы получить значение фототока при различном освещении, и преобразует текущую шкалу в шкалу освещенности с помощью соответствующего соотношения между E и i.
Метод калибровки:
Используя эталонную лампу силы света, на рабочем расстоянии, аналогичном точечному источнику света, изменяют расстояние l между фотоэлементом и эталонной лампой, записывают показания гальванометра на каждом расстоянии и вычисляют освещенность Е по закону обратных квадратов. расстояния E=I/r2, можно получить серию значений фототока i при различной освещенности, которую можно использовать в качестве кривой изменения фототока i и освещенности E, которая является калибровочной кривой люминометра.
Люминометр
Факторы, влияющие на калибровочную кривую:
Фотоэлемент и гальванометр необходимо повторно откалибровать при замене; люминометр должен быть повторно откалиброван после периода использования (как правило, 1-2 раз в течение года); высокоточные люксметры могут быть откалиброваны с помощью эталонных ламп силы света; Диапазон калибровки измерителя освещенности может изменять расстояние r, также можно использовать различные стандартные лампы и можно выбрать измеритель тока с малым диапазоном.
Фотогальванические элементы представляют собой фотоэлектрические элементы, которые непосредственно преобразуют световую энергию в электрическую. Когда свет попадает на поверхность селенового фотоэлемента, падающий свет проходит через тонкую металлическую пленку 4 и достигает границы между полупроводниковым слоем селена 2 и тонкой металлической пленкой 4, и на границе раздела возникает фотоэлектрический эффект. Величина генерируемого фототока пропорциональна освещенности на светоприемной поверхности фотоэлемента. В это время, если внешняя цепь подключена, будет протекать ток, и значение тока будет отображаться на микроамперметре со шкалой в люксах (Lx). Величина фототока зависит от интенсивности падающего света. Измеритель освещенности имеет сдвиговое устройство, поэтому он может измерять высокую освещенность и низкую освещенность.
