Анализ оптических дефектов микроскопа
Микроскопические двойные изображения не совпадают. При наблюдении в бинокулярные окуляры иногда возникает явление смещения двойного изображения. Появление двойного смещения изображения не зависит от непоследовательной компенсации длины двух оправ объектива. Увеличение двух окуляров совершенно разное, а вибрация при использовании или транспортировке приводит к повреждению бинокля. Положение призмы смещается по трем причинам. По первым двум причинам они были откалиброваны и согласованы при выходе с завода, и их можно решить, если вы обращаете внимание на метод и соответствие во время использования.
Третья причина микроскопа встречается чаще. В это время корпус бинокля должен быть открыт, поперечная линейка должна быть размещена на платформе, а окуляры с 10-кратной сеткой должны быть вставлены в левую и правую оправы объектива для наблюдения, а положение и угол бинокулярной призмы должны быть скорректированы. . , а когда бинокулярные окуляры поворачиваются для наблюдения под разными углами, положения крестиков находятся в одном и том же положении поля зрения левого и правого окуляров, а затем затягивают их.
При бинокулярном наблюдении микроскопа иногда будут возникать несоответствия яркости и цвета левого и правого полей зрения, что повлияет на наблюдение. Это вызвано повреждением делительной пленки светоделительной призмы. В это время светоделительную призму следует снять и отправить производителю микроскопа для повторного покрытия перед сборкой и использованием. .
Разница между применением вертикального металлографического микроскопа и перевернутого металлографического микроскопа
Инвертированный металлургический микроскоп, так как наблюдательная поверхность образца совпадает с поверхностью верстака снизу, линза объектива наблюдения расположена под верстаком и наблюдается вверх, такая форма наблюдения не ограничена высотой образца, а только поверхность наблюдения плоская при подготовке образца, поэтому он широко используется в заводских лабораториях, научно-исследовательских учреждениях и колледжах. Основание инвертированного металлографического микроскопа имеет большую опорную поверхность, низкий центр тяжести, стабильную и надежную работу, а окуляр и опорная поверхность наклонены под углом 45 градусов, что делает наблюдение удобным.
Прямой металлографический микроскоп имеет те же основные функции, что и инвертированный металлографический микроскоп, за исключением анализа и идентификации металлических образцов высотой 20-30 мм, поскольку он соответствует повседневным привычкам людей, он более широко используется в прозрачных , полупрозрачное или непрозрачное вещество. Прямой металлургический микроскоп формирует положительное изображение во время наблюдения, что обеспечивает пользователю большое удобство наблюдения и идентификации. Помимо анализа и идентификации металлических образцов высотой 20-30мм, объекты наблюдения крупнее 3 мкм и менее 20 мкм, такие как металлокерамика, электронные микросхемы, печатные схемы, подложки ЖК-дисплеев, пленки, волокна, зернистые объекты, покрытия и другие материалы на поверхности. Структура и следы могут иметь хороший эффект изображения.
