1. Принцип проверки освещенности
Освещенность – это плотность светового потока, полученного на освещаемой плоскости. Люксметр — это прибор, используемый для измерения освещенности на освещаемой поверхности, и это один из наиболее часто используемых инструментов для измерения освещенности.
2. Конструктивный принцип люксметра
Иллюминометр состоит из фотометрической головки (также известной как светоприемный зонд, включающей приемник, парный фильтр V(λ) и косинусный корректор) и дисплея показаний. Его структура показана на рисунке 1.
Этапы и методы измерения
В рабочем помещении освещенность следует измерять в каждом рабочем месте (например, стол, верстак) и затем усреднять. Для пустой комнаты или нерабочей комнаты без определенного рабочего места, если используется только общее освещение, для измерения освещенности обычно используется горизонтальная плоскость высотой 0,8 м. Разделите область измерения на квадраты (или близкие к квадратам) одинакового размера, измерьте освещенность Ei в центре каждого квадрата, и его средняя освещенность будет равна среднему значению освещенностей каждой точки.
и энергия. Если допустимая погрешность измерения Eav составляет ±10 процентов, рабочую нагрузку можно уменьшить, выбрав минимальные точки измерения в соответствии с индексом формы камеры. Соотношение между ними указано в таблице 1. Если количество ламп точно равно количеству точек измерения, указанных в таблице, точки измерения необходимо добавить.
Люксметр (или люксметр) — специальный прибор для измерения освещенности и яркости. То есть для измерения силы света (освещенности) используется степень освещенности объекта, то есть отношение светового потока, полученного на поверхности объекта, к освещаемой площади. Люксметр обычно состоит из селенового или кремниевого фотогальванического элемента и микроамперметра, как показано на рисунке.
Принцип измерения люксметра:
Фотогальванические элементы представляют собой фотоэлектрические элементы, которые непосредственно преобразуют световую энергию в электрическую. Когда свет попадает на поверхность селенового фотоэлемента, падающий свет проходит через тонкую металлическую пленку 4 и достигает границы между полупроводниковым слоем селена 2 и тонкой металлической пленкой 4, и на границе раздела возникает фотоэлектрический эффект. Величина разности потенциалов пропорциональна освещенности на светоприемной поверхности фотогальванического элемента. В это время, если внешняя цепь подключена, через нее будет протекать ток, и значение тока будет отображаться на микроамперметре со шкалой в люксах (Lx). Величина фототока зависит от интенсивности падающего света и сопротивления в контуре. Измеритель освещенности имеет сдвиговое устройство, поэтому он может измерять высокую освещенность и низкую освещенность.
Типы люксметров:
1. Визуальный люксометр: неудобен в использовании, не очень точен, используется редко
2. Фотоэлектрический измеритель освещенности: широко используемый селеновый фотоэлектрический измеритель освещенности и кремниевый фотоэлектрический измеритель освещенности.
Состав и требования к использованию измерителя освещенности с фотоэлементом:
1. Состав: микроамперметр, ручка переключения передач, регулировка нулевой точки, зажимной штифт, фотоэлемент, корректирующий фильтр V(λ) и т. д.
2. Требования к использованию:
① В фотоэлементах используются селеновые (Se) фотоэлементы или кремниевые (Si) фотоэлементы с хорошей линейностью; они могут сохранять хорошую стабильность после длительной эксплуатации и обладают высокой чувствительностью; при высоком E выберите фотоэлементы с высоким внутренним сопротивлением, которые имеют низкую чувствительность и хорошую линейность, не легко повреждаются при сильном воздействии света.
② Внутри находится корректирующий фильтр V (λ), который подходит для освещения источников света с различной цветовой температурой, и погрешность невелика.
③ Компенсатор косинусоидального угла (опаловое белое стекло или белый пластик) добавляется перед фотоэлементом, поскольку при большом угле падения фотоэлемент отклоняется от закона косинуса.
④Люминометр должен работать при комнатной или близкой к комнатной температуре (дрейф фотоэлемента зависит от температуры).
Принцип калибровки:
Пусть Ls облучает фотоэлемент вертикально → E=I/r2, изменяет r, чтобы получить значение фототока при различном освещении, и преобразует текущую шкалу в шкалу освещенности с помощью соответствующего соотношения между E и i.
Метод калибровки:
С помощью эталона силы света на рабочем расстоянии, аналогичном точечному источнику света, изменяют расстояние l между фотоэлементом и эталоном, записывают показания гальванометра на каждом расстоянии и вычисляют освещенность Е по обратному квадрату закон расстояния E=I/r2. Можно получить ряд значений фототока i при различной освещенности, которые можно использовать в качестве кривой изменения фототока i и освещенности E, которая является калибровочной кривой люксметра.
Факторы, влияющие на калибровочную кривую:
Фотоэлемент и гальванометр необходимо повторно откалибровать при замене; люминометр должен быть повторно откалиброван после определенного периода использования (как правило, 1-2 раз в течение года); высокоточные люксметры могут быть откалиброваны с помощью эталонных ламп силы света; Диапазон калибровки измерителя освещенности может изменять расстояние r, также можно использовать различные стандартные лампы и можно выбрать измеритель тока с малым диапазоном.
