Разница между сканирующим электронным микроскопом MINI SEM и оптическим микроскопом
Электронный микроскоп — это большой инструмент, который использует электронный луч в качестве источника освещения и отображает образец на флуоресцентном экране посредством пропускания или отражения потока электронов и многоуровневого усиления электромагнитной линзы. Электронный микроскоп заменяет видимый свет потоком электронов, а линзу — магнитным полем, позволяя заменить движение электронов. Он использует рентгеновские изображения с гораздо более короткими длинами волн, чем обычный видимый свет, и имеет высокое разрешение. Оптический микроскоп, с другой стороны, представляет собой оптический инструмент, который использует освещение видимым светом для формирования увеличенных изображений мелких объектов. Таким образом, существует несколько основных отличий между электронными микроскопами и оптическими микроскопами:
1. Различные источники освещения. Источником освещения, используемым в электронной микроскопии, является поток электронов, испускаемый электронной пушкой, а источником освещения светового зеркала — видимый свет (солнечный свет или свет). Поскольку длина волны электронного потока намного короче длины световой волны, усиление и разрешение электронной микроскопии значительно выше, чем у светового зеркала.
2. Разные линзы. Объективом, играющим увеличительную роль в электронной микроскопии, является электромагнитная линза (круглая электромагнитная катушка, способная создавать магнитное поле в *-области), а объективом световой линзы — оптическая линза, изготовленная из матового стекла. В электронной микроскопии есть три набора электромагнитных линз, которые по функциям эквивалентны конденсору, объективу и окуляру в оптических линзах.
3. Различные принципы визуализации. В электрическом зеркале электронный луч, действующий на испытуемый образец, усиливается электромагнитной линзой и проецируется на флуоресцентный экран для формирования изображения или наносится на светочувствительную пленку для формирования изображения. Механизм различия в интенсивности электронов заключается в том, что когда электронный луч воздействует на испытуемый образец, падающие электроны сталкиваются с атомами материала, что приводит к рассеянию. Из-за разной степени рассеяния электронов в разных частях образца электронное изображение образца представлено по интенсивности. Изображение объекта образца в оптическом зеркале представляется как разность яркостей, обусловленная разницей в том, сколько света поглощается различными структурами испытуемого образца.
4. Методы приготовления используемых образцов различны. Процесс подготовки образцов тканей и клеток, используемых для электронного микроскопического исследования, сложен, имеет высокую техническую сложность и стоимость. На этапах отбора проб, фиксации, обезвоживания и заливки требуются специальные реагенты и операции. После внедрения внедренные блоки ткани необходимо разрезать на ультратонкие ломтики образца толщиной 50-100 нм с помощью ультратонкого слайсера. Образцы, наблюдаемые под микроскопом, обычно помещают на предметное стекло, например, образцы обычных срезов тканей, образцы мазков клеток, образцы компрессии тканей и образцы капель клеток.
Разрешение оптического микроскопа связано с длиной световых волн. Для объектов, длина которых близка или меньше длины световых волн, оптические микроскопы бессильны. Длина волны движения электронов намного длиннее, чем у световых волн, и можно увидеть более мелкие объекты. Оптический микроскоп — это система увеличения изображения, состоящая из набора оптических линз, тогда как электронный микроскоп использует поток электронов вместо видимого света и магнитное поле вместо линзы, что позволяет движению электронов заменять фотоны, позволяя рассматривать объекты меньшего размера, чем те, которые видны оптической системой.
