+86-18822802390

Свяжитесь с нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Электронная-почта:admin@gvda-instrument.com

  • Ватсап: 8618822802390

  • Добавить: комната 610-612, коммерческое здание Хуачуанда, район 46, улица Цуйчжу, улица Синьань, Баоань, Шэньчжэнь.

Разница между применением вертикального металлографического микроскопа и перевернутого металлографического микроскопа

Jun 26, 2023

Разница между применением вертикального металлографического микроскопа и перевернутого металлографического микроскопа

 

Разница между применением вертикального металлографического микроскопа и перевернутого металлографического микроскопа
Разница между прямым и перевернутым просто в том, что вертикальный образец помещается ниже, а перевернутый образец помещается вверху. Вертикальные цели направлены вниз, перевернутые цели направлены вверх.
Инвертированный металлургический микроскоп, так как наблюдательная поверхность образца совпадает с поверхностью верстака снизу, линза объектива наблюдения расположена под верстаком и наблюдается вверх, такая форма наблюдения не ограничена высотой образца, а только поверхность наблюдения плоская при подготовке образца, поэтому он широко используется в заводских лабораториях, научно-исследовательских учреждениях и колледжах. Основание инвертированного металлографического микроскопа имеет большую опорную поверхность, низкий центр тяжести, стабильную и надежную работу, а окуляр и опорная поверхность наклонены под углом 45 градусов, что делает наблюдение удобным.


Прямой металлографический микроскоп имеет те же основные функции, что и инвертированный металлографический микроскоп, за исключением анализа и идентификации металлических образцов высотой 20-30 мм, поскольку он соответствует повседневным привычкам людей, он более широко используется в прозрачных , полупрозрачное или непрозрачное вещество. Прямой металлургический микроскоп формирует положительное изображение во время наблюдения, что обеспечивает пользователю большое удобство наблюдения и идентификации. Помимо анализа и идентификации металлических образцов высотой 20-30мм, объекты наблюдения крупнее 3 мкм и менее 20 мкм, такие как металлокерамика, электронные микросхемы, печатные схемы, подложки ЖК-дисплеев, пленки, волокна, зернистые объекты, покрытия и другие материалы на поверхности. Структура и следы могут иметь хороший эффект изображения.

 

3USB Microscope -

Отправить запрос