Разница между прямым металлографическим микроскопом и инвертированным металлографическим микроскопом в применении
Разница между вертикальным и перевернутым типом заключается в том, что вертикальный образец размещается внизу, а перевернутый образец — вверху. Прямой объектив направлен вниз, а перевернутый объектив — вверх.
В инвертированном металлографическом микроскопе, поскольку наблюдательная поверхность образца совпадает с поверхностью стола вниз, линза наблюдательного объектива расположена ниже стола и смотрит вверх. Эта форма наблюдения не ограничивается высотой образца. При подготовке образца, пока одна поверхность наблюдения плоская, она широко используется в заводских лабораториях, научно-исследовательских учреждениях и школах. Основание инвертированного металлографического микроскопа имеет большую опорную поверхность, низкий центр тяжести, чрезвычайно устойчиво и надежно. Окуляры и опорная поверхность наклонены под углом 45 градусов, что делает наблюдение комфортным.
Прямой металлографический микроскоп имеет те же основные функции, что и инвертированный металлографический микроскоп. Помимо анализа и идентификации металлических образцов высотой 20-30 мм, он более широко используется в прозрачных, полупрозрачных или непрозрачных приложениях, поскольку соответствует повседневным привычкам людей. вещество. Вертикальный металлографический микроскоп создает вертикальное изображение во время наблюдения, что значительно упрощает наблюдение и идентификацию пользователя. Помимо анализа и идентификации образцов металла высотой 20-30 мм, объекты наблюдения размером более 3 микрон и менее 20 микрон, такие как металлокерамика, электронные чипы, печатные схемы, подложки ЖК-дисплеев, пленки, волокна, зернистые объекты , покрытия и другие поверхности материалов. Структуры и следы могут иметь хорошие визуальные эффекты.
Анализ оптических неисправностей микроскопов
Два микроскопических изображения не перекрываются. При бинокулярном окулярном наблюдении иногда возникает явление двойного неперекрывающегося изображения. Явление неперекрывающихся двойных изображений не имеет значения, поскольку компенсация длины двух тубусов линз непоследовательна. Увеличение двух окуляров совершенно разное, а вибрация во время использования или транспортировки может привести к поломке бинокля. Это вызвано тремя причинами, включая движение призмы. По первым двум причинам они были откалиброваны и выбраны на заводе. Их можно решить, если вы обратите внимание на метод и конфигурацию во время использования.
Третья причина микроскопа более распространена. В это время следует открыть корпус бинокля, положить на платформу крестовую линейку, вставить окуляры 10-кратной сетки в левую и правую тубусы для наблюдения и откорректировать положение и угол бинокулярной призмы. . , а когда бинокулярные окуляры поворачиваются на разные углы для наблюдения, положение поперечной шкалы находится в одном и том же положении в поле зрения левого и правого окуляров, а затем затягивается.
При бинокулярном наблюдении в микроскоп иногда яркость и цвет левого и правого полей зрения не совпадают, что ухудшает качество наблюдения. Это происходит потому, что дихроичная пленка дихроичной призмы повреждена. В это время дихроичную призму следует снять и отправить производителю микроскопа для повторного покрытия перед сборкой и использованием. .
