Пропускание и эпиосвещение микроскопов для приборов металлографического анализа
Методы освещения микроскопов для приборов металлографического анализа обычно делятся на две категории: «пропускающее освещение» и «эпоскопическое освещение». Первый подходит для прозрачных или полупрозрачных объектов, и большинство биологических микроскопов относятся к этому типу освещения; последний подходит для непрозрачных объектов, а источник света исходит сверху, что также известно как «отражающее освещение». Основные применения с металлографической микроскопией или флуоресцентной микроскопией.
1. Транс-освещение
Биологические микроскопы в основном используются для наблюдения за прозрачными образцами и требуют освещения проходящим светом. Есть два способа освещения
(1) Критическая освещенность После того, как источник света проходит через конденсатор, он отображается на плоскости объекта, как показано на рисунке 5. Если не учитывать потери световой энергии, яркость изображения источника света такая же, как у света. источник света, поэтому этот метод эквивалентен размещению источника света на плоскости объекта. Очевидно, что при критическом освещении, если яркость поверхности источника света неравномерна или явно видны мелкие структуры, такие как нити и т. д., то это серьезно повлияет на эффект наблюдения микроскопа, что является недостатком критическое освещение. Решением проблемы является установка перед источником света молочно-белых и теплопоглощающих цветных фильтров, чтобы сделать освещение более равномерным и избежать повреждения досматриваемого объекта из-за длительного облучения источника света. При освещении проходящим светом угол апертуры изображающего луча объектива определяется углом апертуры прямоугольного луча конденсорного зеркала. Чтобы в полной мере использовать числовую апертуру объектива, конденсорная линза должна иметь такую же или немного большую числовую апертуру, что и объектив.
(2) Кольское освещение Недостаток неравномерной освещенности поверхности объекта при критическом освещении можно устранить при помощи Кольского освещения. Вспомогательная конденсорная линза 2 добавляется между источником света 1 и конденсорной линзой 5, как показано на фиг. 6 . Видно, что поле зрения (образец) объектива освещено равномерно, поскольку источник света не освещается напрямую, а на изображении отображается вспомогательный конденсор 2 (также называемый зеркалом Колара), равномерно освещенный источником света. образец 6 .
2. эпи-освещение
При наблюдении непрозрачных предметов, например при наблюдении металлических шлифовальных дисков через металлографический микроскоп, его часто подсвечивают сбоку или сверху. В это время покровное стекло на поверхности наблюдаемого объекта отсутствует, а изображение препарата создается отраженным или рассеянным светом, попадающим в объектив.
3. Освещенный метод наблюдения частиц с использованием темного поля.
Ультрамикроскопические частицы можно наблюдать методом темного поля. К так называемым ультрамикроскопическим частицам относятся те крошечные частицы, размер которых меньше предела разрешения микроскопа. Принцип темнопольного освещения таков: не позволяйте основному свету освещения проникать в объектив, и только свет, рассеянный частицами, может попасть в объектив для получения изображений. Поэтому изображение ярких частиц дается на темном фоне. Хотя фон поля зрения темный, контрастность (контрастность) очень хорошая, что позволяет улучшить разрешение.
Освещение темного поля можно разделить на одностороннее и двустороннее.
(1) Одностороннее освещение темного поля На рисунке 8 представлена принципиальная схема одностороннего освещения темного поля. Из рисунка видно, что после отражения света, излучаемого осветителем 2, от непрозрачного листа образца 1, основной свет не попадает в объектив 3, а свет, попадающий в объектив, в основном рассеивается частицами или неравномерно подробности. Очевидно, что такое одностороннее темнопольное освещение эффективно для наблюдения за существованием и движением частиц, но не эффективно для воспроизведения деталей объектов, то есть возникает явление «искажения».
(2) Двустороннее освещение темного поля. Двустороннее освещение темного поля может устранить дефект искажения, вызванный односторонним. Перед обычным трехлинзовым конденсором поместите кольцевую диафрагму, как показано на рисунке 9, для реализации двустороннего темнопольного освещения. Жидкость погружается между последней частью конденсора и объективом, при этом пространство между покровным стеклом и линзой объектива остается сухим. Таким образом, прибор для металлографического анализа оснащен просвечивающим и эпи-типом освещения микроскопа, а кольцевой луч, проходящий через конденсор, полностью отражается в покровном стекле и не может попасть в объектив, образуя цепь, как показано на рисунке. . В линзу объектива попадает только свет, рассеянный частицами на образце, образуя двустороннее темное поле освещения. По поводу других сопутствующих приборов, таких как анализатор расплавленного железа, анализатор углеродистого кремния и т. д., обратитесь в технологический отдел Tongpu.
