Тип пропускания микроскопа, сопровождающего инструменты металлографического анализа
Металлографические аналитические инструменты, поддерживающие освещение микроскопа, обычно делятся на две категории «прошедшее освещение» и «падающее освещение». Первое относится к прозрачным или полупрозрачным объектам исследования, к этому типу освещения относится подавляющее большинство биологических микроскопов; последнее применяется к непрозрачным объектам, подлежащим исследованию, источник света сверху, также известный как «отражающее освещение». В основном используется в металлургической микроскопии или флуоресцентной микроскопии.
1. Пропускающее освещение
Биологический микроскоп используется для наблюдения прозрачных образцов, для освещения которых необходим проходящий свет. Есть два типа освещения
(1) Критическое освещение (Критическое освещение) Источник света проходит через конденсорное зеркало и отображается на плоскости объекта. Если не учитывать потери световой энергии, яркость изображения источника света такая же, как и самого источника света, поэтому этот метод эквивалентен размещению источника света на плоскости объекта. Очевидно, что при критическом освещении, если поверхностная яркость источника света неоднородна или явно видны мелкие структуры, такие как нити и т. д., то необходимо серьезно повлиять на эффект наблюдения через микроскоп, что является недостатком критического освещения. . Решение проблемы — разместить перед источником света опаловые и теплопоглощающие фильтры, чтобы освещение стало более равномерным и чтобы избежать длительного облучения источника света и повреждения обследуемого объекта. Освещение проходящим светом, луч изображения объектива с углом апертуры, угол апертуры луча определяется зеркалом прожектора как квадрат, чтобы в полной мере использовать числовую апертуру объектива, зеркало прожектора должно быть таким же, как объектив, или иметь немного большую числовую апертуру.
(2) Подсветка Cora Недостаток неравномерного освещения поверхности объекта при критическом освещении можно устранить в подсветке Cora. В источнике света 1 и фокусирующей линзе 5 между добавлением вспомогательной фокусирующей линзы 2. видно, потому что не непосредственно к источнику света, но источник света равномерно освещается вспомогательной фокусирующей линзой 2 (также известной как зеркало Кора). ) визуализация в образце 6, чтобы поле зрения объектива (образца) получило равномерное освещение.
2. Падающая освещенность
При наблюдении непрозрачного объекта, например металлического абразивного диска, через металлургический микроскоп освещение часто применяется сбоку или сверху. В это время поверхность наблюдаемого объекта на поверхности стекла не покрывается, изображение образца формируется за счет попадания в объектив отраженного или рассеянного света. Как показано на рисунке 7.
3. Осветительный метод наблюдения частиц в темном поле зрения.
Метод темного поля можно использовать для наблюдения супермикроскопической плазмы. Так называемая супермикроскопическая плазма — это крошечная плазма, размер которой меньше предела разрешения микроскопа. Принцип темнопольного освещения заключается в том, что основные лучи освещения не попадают в объектив, а только лучи, рассеянные частицами, способны попасть в изображение объектива. В результате изображение ярких частиц дается на темном фоне, а поле зрения темное, но контраст хороший, что позволяет улучшить разрешение.
Темнопольное освещение делится на однонаправленное и двунаправленное.
(1) Однонаправленное освещение темного поля. Схема однонаправленного освещения темного поля. На рисунке видно, что свет от осветителя 2, от непрозрачного образца 1 после отражения, основной свет не попадает в объектив 3, в объектив попадает в основном частицы или неровности тонкой части рассеянный свет. Очевидно, что такое однонаправленное темное поле, наличие и движение частиц эффективно для наблюдения, но не эффективно для воспроизведения деталей объекта, то есть имеет место явление «искажения».
(2) Двустороннее освещение темного поля. Двустороннее освещение темного поля может устранить недостатки одностороннего искажения. Перед обычным трехлинзовым конденсором, размещением кольцевой диафрагмы, можно добиться двустороннего темного поля освещения. Между последним куском конденсора и несущим стеклом погружена жидкость, а между покровным стеклом и объективом сухая. Таким образом, металлографические аналитические инструменты, поддерживающие пропускание микроскопа и падающее освещение, проходят через кольцевой луч конденсорной линзы, покровное стекло находится в полном отражении и не может попасть в объектив, образуя схему, как показано на рисунке. В объектив попадает только свет, рассеянный частицами на образце, образующий двустороннее темное поле освещения. По поводу других сопутствующих приборов, таких как анализатор железа, анализатор углерода и кремния и т. д., обратитесь в технический отдел Tong Pu.
