Применение и особенности просвечивающей электронной микроскопииПрименение и особенности просвечивающей электронной микроскопии
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) — это микроскоп высокого разрешения, используемый для наблюдения внутренней структуры образца. Он использует электронный луч для проникновения в образец и формирования проецируемого изображения, которое затем интерпретируется и анализируется для выявления микроструктуры образца.
1. Источник электронов
В ПЭМ используется электронный луч, а не световой луч. В трансмиссионном электронном микроскопе серии Talos, оснащенном лабораторией Jifeng Electronics MA Lab, используется электронная пушка сверхвысокой яркости, а в трансмиссионном электронном микроскопе со сферической аберрацией HF5000 используется электронная пушка с холодным полем.
2. Вакуумная система
Чтобы избежать взаимодействия электронного луча с газом перед прохождением через образец, весь микроскоп должен находиться в условиях высокого вакуума.
3. Образец передачи
Образец должен быть прозрачным, а это означает, что электронный луч может проникнуть в него, взаимодействовать с ним и сформировать проецируемое изображение. Обычно толщина образца находится в диапазоне от нанометра до субмикрона. Quarterly оснащен десятками FIB Helios 5 серии для подготовки высококачественных ультратонких образцов TEM.
4. Система передачи электронов.
Электронный луч фокусируется через передающую систему. Эти линзы аналогичны тем, которые используются в оптических микроскопах, но поскольку длина волны электронов намного короче световых волн, конструкция и производство линз более сложны.
5. Плоскость изображения
Пройдя через образец, электронный луч попадает в плоскость изображения. В этой плоскости информация электронного луча преобразуется в изображение и фиксируется детектором.
6. Детектор
Наиболее распространенными детекторами являются люминофорные экраны, камеры CCD (прибор с зарядовой связью) или камеры CMOS (дополнительный металлооксид-полупроводник). Когда электронный луч взаимодействует с люминофорным экраном в плоскости изображения, образуется видимый свет, в результате чего образуется проецируемое изображение образца, которое часто используется для поиска образца. Поскольку люминофорный экран необходимо использовать в темной комнате, что неудобно для пользователя, производители в настоящее время устанавливают камеру сбоку от люминофорного экрана, чтобы оператор ТЭМ мог наблюдать за монитором в открытой среде и находить образцы. , наклона оси ленты и других операций, это незаметное улучшение является основой реализации разделения человека и машины.
7. Формирование имиджа
Когда электронный луч проходит через образец, он взаимодействует с атомными и кристаллическими структурами внутри образца, рассеивая и поглощая. На основе этих взаимодействий интенсивность электронного луча будет формировать изображения на плоскости изображения. Эти изображения представляют собой двухмерные проекционные изображения, однако внутренняя структура образца часто бывает трехмерной, поэтому на это следует обратить особое внимание при разрешении информации о внутренних деталях образца.
8. Анализ и интерпретация
Наблюдая и анализируя изображения, исследователи могут понять кристаллическую структуру, параметры решетки, дефекты кристалла, расположение атомов и другую микроструктурную информацию образца. В компании Jifeng работает профессиональная команда по анализу материалов, которая может предоставить клиентам комплексные решения для анализа процессов и профессиональные отчеты по анализу материалов.
