+86-18822802390

Свяжитесь с нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Электронная-почта:admin@gvda-instrument.com

  • Ватсап: 8618822802390

  • Добавить: комната 610-612, коммерческое здание Хуачуанда, район 46, улица Цуйчжу, улица Синьань, Баоань, Шэньчжэнь.

Какие преимущества и недостатки связаны с использованием электронного микроскопа?

Apr 10, 2023

Какие преимущества и недостатки связаны с использованием электронного микроскопа?

 

преимущество:


1. Высокое разрешение, разрешение оптического микроскопа составляет 0,2 мкм, а разрешение просвечивающего электронного микроскопа составляет 0,2 нм, что означает, что просвечивающий электронный микроскоп увеличивается в 1000 раз на основа оптического микроскопа.


2. Трансмиссионные электронные микроскопы часто используются для наблюдения тонких структур материалов, которые не могут быть разрешены обычными микроскопами; сканирующие электронные микроскопы в основном используются для наблюдения за морфологией твердых поверхностей, а также могут сочетаться с рентгеновскими дифрактометрами или спектрометрами электронной энергии. Создавайте электронные микрозонды для анализа состава материалов; Эмиссионные электронные микроскопы используются для изучения самоизлучающих электронных поверхностей.


недостаток:


1. В электронном микроскопе образцы необходимо наблюдать в вакууме, поэтому нельзя наблюдать живые образцы. С развитием технологий сканирующий электронный микроскоп окружающей среды постепенно реализует прямое наблюдение за живыми образцами;


2. При обработке образца может образоваться структура, которой у образца нет, что усложняет последующий анализ изображения;


3. Из-за сильной способности рассеивать электроны легко возникает вторичная дифракция;


4. Поскольку это двумерное плоское проекционное изображение трехмерного объекта, иногда изображение не является уникальным;


5. Поскольку в просвечивающем электронном микроскопе можно наблюдать только очень тонкие образцы, возможно, что структура поверхности материала отличается от структуры внутри материала;


6. Для ультратонких образцов (менее 100 нанометров) процесс подготовки образца сложен и труден, а подготовка образца повреждается;


7. Электронный луч может разрушить образец из-за столкновения и нагрева;


8. Кроме того, цены на покупку и обслуживание электронных микроскопов относительно высоки.

 

-4

Отправить запрос