Каковы некоторые преимущества и недостатки электронного микроскопа?
преимущество:
1. Высокое разрешение, разрешение оптического микроскопа составляет 0. 2 мкм, а разрешение электронного микроскопа просвечивающего электронного микроскопа составляет 0. 2NM, что означает, что просвечивающий электронный микроскоп увеличивает 1000 раз на основе оптического микроскопа.
2. Электронная микроскопия просвечивающейся обычно используется для наблюдения за тонкими структурами материала, которые нельзя различать с помощью обычных микроскопов; Сканирующая электронная микроскопия в основном используется для наблюдения за морфологией твердых поверхностей, а также может быть объединена с рентгеновской дифракцией или электронной спектроскопией с образованием электронных микропробов для анализа состава материала; Эмиссионная электронная микроскопия используется для изучения самодовольных электронных поверхностей.
Недостатки:
1. В электронном микроскопе образцы должны наблюдаться в вакууме, поэтому живые образцы не могут наблюдаться. С развитием технологии, электронная микроскопия сканирования окружающей среды постепенно достигает прямого наблюдения за живыми образцами;
2. При обработке образцов могут быть сгенерированы структуры, которые первоначально не присутствовали в образце, что увеличивает сложность анализа изображения в будущем;
3. Из -за его сильной способности рассеяния электронов он подвержен вторичной дифракции и другим явлениям;
4. Из-за того, что это двумерное проекционное изображение трехмерного объекта, иногда изображение не является уникальным;
5. Из -за того, что просвечивающая электронная микроскопия может наблюдать только очень тонкие образцы, возможно, что структура поверхности материала отличается от структуры внутри материала;
6. Ультра -тонкие образцы (ниже 100 нанометров), процесс приготовления образца является сложным и трудным, и возникает повреждение во время подготовки образца;
7. Электронные балки могут повредить образцы из -за столкновения и нагрева;
8. Кроме того, цены на покупку и обслуживание электронных микроскопов относительно высоки.
