Какие две основные составляющие атомной силы обнаруживаются с помощью атомно-силового микроскопа?
Между зондом АСМ и поверхностными атомами образца действуют различные силы, включая силу Ван-дер-Ваальса, силу отталкивания, электростатическую силу, силу деформации, магнитную силу, химическую силу и т. д. При использовании атомно-силового микроскопа влияние сила Ван-дер-Ваальса и сила отталкивания будут устранены; кроме того, кроме двух вышеуказанных сил, сами остальные силы относительно малы.
Следовательно, атомная сила, обнаруженная с помощью атомно-силового микроскопа, в основном состоит из силы Ван-дер-Ваальса и силы отталкивания. Среди них сила Ван-дер-Ваальса – это притяжение, а сущностью силы отталкивания является взаимодействие между атомами и электронными облаками, которое по своей сути является квантовым эффектом.
