Что такое конфокальная микроскопия?
Конфокальная микроскопия — это метод оптической визуализации, который улучшает оптическое разрешение и контрастность микроскопических изображений за счет использования пространственных точечных отверстий для блокирования расфокусированного света. в формировании имиджа. Захват нескольких 2D-изображений на разной глубине в образце позволяет реконструировать 3D-структуры (процесс, называемый оптическим секционированием). Этот метод широко используется в науке и промышленности, с типичными приложениями в науках о жизни, контроле полупроводников и материаловедении.
Конфокальные микроскопы обычно представляют собой флуоресцентные микроскопы и конфокальные микроскопы.
Флуоресцентная микроскопия в основном используется в биологической области и медицинских исследованиях. Он может получать флуоресцентные изображения тонкой структуры внутри клеток или тканей и наблюдать физиологические сигналы, такие как Ca2 plus , значение pH, мембранный потенциал и изменения морфологии клеток на субклеточном уровне. , новое поколение мощных исследовательских инструментов в области молекулярной биологии, нейронауки, фармакологии, генетики и многого другого. Конфокальный микроскоп, основанный на принципе конфокальной технологии, представляет собой прибор обнаружения, используемый для измерения поверхности различных прецизионных устройств и материалов на микро-наноуровне.
Цель материаловедения состоит в том, чтобы изучить влияние структуры поверхности материала на его поверхностные свойства. Поэтому анализ топографии поверхности с высоким разрешением имеет большое значение для определения соответствующих параметров, таких как шероховатость поверхности, отражательные свойства, трибологические свойства и качество поверхности. Конфокальная технология позволяет измерять материалы с различными свойствами отражения от поверхности и получать эффективные данные измерений.
Конфокальный микроскоп основан на технологии конфокальной микроскопии в сочетании с модулями точного сканирования в направлении Z, алгоритмами 3D-моделирования и т. д., может бесконтактно сканировать поверхность устройства и создавать 3D-изображение поверхности для достижения 3D-измерения топография поверхности устройства. В области испытаний производства материалов он может анализировать профиль поверхности, дефекты поверхности, износ, коррозию, плоскостность, шероховатость, волнистость, зазор между порами, высоту ступени, деформацию изгиба, обработку различных изделий, компонентов и поверхностей материалов. Измеряются и анализируются топография поверхности и другие характеристики поверхности.
