Каков общий метод измерения инструментальных микроскопов?
1. Измерение декартовых координат:
При измерении направление прямоугольных координат измеряемого объекта должно совпадать с направлением движения крестообразного стола, прежде чем можно будет выполнить измерение. При использовании измерения декартовых координат значение декартовой координаты можно считать непосредственно по величине перемещения стола поперечного перемещения. Если это большой инструментальный микроскоп, изображение на прицельном отверстии для измерения декартовых координат можно использовать для подключения наблюдательного глаза для правильного измерения, а при измерении прямого угла объекта. При коррекции направления координат и перекрестного перемещения стола это Очень удобно пользоваться собранным поворотным столом, установленным на большом инструментальном микроскопе. Что касается небольшого инструментального микроскопа, к нему прилагается только поворотный стол.
2. Измерение угла:
Его можно измерить с помощью вращающегося стола или линзы углового наблюдения. Вообще говоря, линзы для наблюдения за углом имеют лучшую точность.
3. Измерение высоты:
Хотя небольшой инструментальный микроскоп не может измерить высоту, если к верхнему концу опоры прикреплен измерительный прибор и высота измеряется путем перемещения микроскопа вверх и вниз. Однако провести точные измерения очень сложно из-за ошибок глубины резкости, наклона опоры и ошибок между датчиком и оптической осью.
4. Измерение диаметра пор:
Обычно для измерения используется линза для наблюдения за углом, но для больших инструментальных микроскопов можно использовать линзу для наблюдения наложенного изображения или оптический детектор. То есть линза наложенного изображения используется для перекрытия двух сгенерированных изображений, а затем то же самое происходит на противоположной стороне. Таким образом, величина перемещения отображает внутренний диаметр отверстия. Если используется оптический детектор, сначала установите его на объектив с 3-кратным увеличением, затем совместите направление движения детектора и рабочего стола, а затем отрегулируйте линию перекрытия в зеркале наблюдения так, чтобы она была параллельна перекрестию линзы наблюдения. Измерительный элемент соприкасается с поверхностью отверстия. Наконец, подача по оси Y используется для коррекции обратного движения перекрывающейся линии, а подача по оси X используется для того, чтобы перекрывающаяся линия зажимала десять подлиний линзы наблюдения, так что можно считать измеренное значение по оси X. То же самое справедливо и для отверстия на противоположной стороне, поэтому разницу между показаниями плюс диаметр детектора можно использовать для получения внутреннего диаметра отверстия.
