Несколько перспективных направлений развития просвечивающей электронной микроскопии
Просвечивающая электронная микроскопия проецирует ускоренный и концентрированный электронный луч на очень тонкий образец. Электроны сталкиваются с атомами образца и меняют направление, вызывая рассеяние на телесные углы. Размер угла рассеяния связан с плотностью и толщиной образца, поэтому можно формировать изображения разных светлых и темных цветов. Изображение будет отображаться на устройствах формирования изображений (таких как флуоресцентные экраны, пленки и светочувствительные компоненты связи) после увеличения и фокусировки.
В настоящее время трансмиссионная электронная микроскопия имеет несколько важных направлений развития. , улучшение разрешения. Разрешение всегда было целью и направлением развития просвечивающих электронных микроскопов. Разработать новое поколение монохроматоров и корректоров сферических аберраций для дальнейшего улучшения энергетического и пространственного разрешения просвечивающих электронных микроскопов, особенно для низковольтных электронных микроскопов. Во-вторых, разработать технологию просвечивающей электронной микроскопии in-situ. Просвечивающая электронная микроскопия in-situ имеет важные применения в области синтеза материалов, химического катализа, наук о жизни и энергетических материалов. Он может наблюдать и контролировать ход газофазных и жидкофазных реакций в реальном времени на атомном уровне, тем самым изучая научные вопросы, такие как основной механизм реакции. В-третьих, его более широко используют при изучении биологических структур макромолекул. Широкое применение криоэлектронной микроскопии для изучения структур биологических макромолекул будет способствовать непрерывному развитию технологии криоэлектронной микроскопии. Применение криоэлектронной микроскопии в области биологии привлекает все больше внимания, становясь связующим звеном и мостом, соединяющим биологические макромолекулы и клетки.
С непрерывным развитием и прогрессом электронной микроскопии разрешение просвечивающей электронной микроскопии достигло субангстремного уровня, и электронная микроскопия стала незаменимым методом определения характеристик в области материаловедения. За более чем восемьдесят лет с момента зарождения трансмиссионной электронной микроскопии до сегодняшнего дня люди решили с помощью трансмиссионной электронной микроскопии множество научных задач. Просвечивающие электронные микроскопы также постоянно развиваются и совершенствуются, обладая все более широкими функциями и улучшенными характеристиками.
