Методы и этапы обработки образцов для электронной микроскопии
Прежде чем использовать трансмиссионный электронный микроскоп для наблюдения биологических образцов, образцы необходимо предварительно обработать. Ученые используют разные методы обработки в зависимости от требований различных исследований.
Фиксация: Чтобы максимально сохранить образец, для его отверждения используется глутаровый альдегид, а для окрашивания жира используется осмиевая кислота.
Холодная фиксация: образец быстро замораживают в жидком этане, чтобы вода не кристаллизовалась, а вместо этого образовывала аморфный лед. Сохранившиеся таким образом образцы имеют меньшие повреждения, но контрастность изображения очень низкая.
Обезвоживание: используйте этанол и ацетон вместо воды.
Дополненный: образец можно разделить после заполнения.
Сегментация: образец разрезается на тонкие ломтики с помощью алмазного лезвия.
Окрашивание: тяжелые атомы, такие как свинец или уран, рассеивают электроны сильнее, чем более легкие атомы, и поэтому их можно использовать для увеличения контраста.
Прежде чем использовать просвечивающий электронный микроскоп для наблюдения за металлами, образец необходимо
Вирусы под электронным микроскопом
Нарезка на очень тонкие ломтики (около 0,1 мм) и последующая электролитическая полировка для продолжения утончения металла часто заканчиваются образованием отверстия в центре образца, через которое электроны могут проходить через очень тонкий металл. Металлы, которые нельзя полировать электролитически, или материалы, которые не проводят ток или имеют плохую проводимость, например кремний, обычно утончаются механически, а затем обрабатываются ионным ударом. Чтобы непроводящие образцы не накапливали статическое электричество в сканирующем электронном микроскопе, их поверхность необходимо покрыть проводящим слоем.
Почему электронные микроскопы имеют более высокое разрешение?
Как следует из названия, так называемый электронный микроскоп — это микроскоп, в котором в качестве источника освещения используются электронные лучи. Поскольку электронный луч может изгибаться под действием внешнего магнитного или электрического поля, образуя явление преломления, подобное явлению видимого света, проходящего через стекло, мы можем использовать этот физический эффект для создания «линзы» для электронного луча, тем самым разработка электронного микроскопа. Особенностью трансмиссионного электронного микроскопа (ПЭМ) является то, что мы используем электронные лучи, которые проходят через образец для получения изображения, что отличается от сканирующего электронного микроскопа (сканирующего электронного микроскопа, SEM). Поскольку длина волны электронных волн намного меньше длины волны видимого света (длина волны электронных волн 100кВ составляет 0,0037 нм, а длина волны фиолетового света — 400 нм), согласно оптическим Согласно теории, можно ожидать, что разрешающая способность электронных микроскопов должна быть значительно лучше, чем у оптических микроскопов. Фактически, разрешающая способность современных электронных микроскопов достигла 0,1 нм. В учебнике по физике для старшеклассников по выбору это объясняется более подробно (небольшая информация о фотоэффекте)
