Как готовят образцы для электронной микроскопии
1. Проекционный метод
В условиях вакуума поверхность образца напыляется атомами тяжелых металлов с сильной способностью к рассеянию электронов, так что между образцом и неопыленной областью образуется сильный контраст, а неопыленная часть становится проекцией образца. По проекции можно понять трехмерную форму и высоту образца, и этот метод обычно используется для наблюдения жгутиков бактерий или частиц вирусов.
2. Метод отрицательного окрашивания
Поскольку этот метод окрашивает фон образца, чтобы выделить образец, он называется негативным окрашиванием. Как правило, образец окружен веществом с высокой электронной плотностью, не имеющим никакой структуры и не реагирующим с образцом, таким как натриевая соль фосфорно-вольфрамовой кислоты. Форма также может в определенной степени отражать внутреннюю структуру образца. Таким образом можно наблюдать бактериальные клетки, вирусы и т.д.
3. Метод ультратонких срезов
Это наиболее часто используемый метод, поскольку он позволяет наблюдать тонкие структуры внутри клеток или других образцов. Обычно необходимо зафиксировать образец в соответствии с определенной процедурой, обезвожить его, затем залить смолой в качестве подложки и разрезать на очень тонкие срезы с помощью ультратонкого микротома. Поскольку с помощью просвечивающего электронного микроскопа можно наблюдать только срезы толщиной от 20 до 100 нанометров, в обычных бактериальных образцах одну клетку следует разделить на 10–50 срезов.
Чтобы выбрать электронный микроскоп, прежде всего, проверьте, есть ли у производителя сканирующего электронного микроскопа полные сертификаты; во-вторых, посмотрите контракт производителя сканирующего электронного микроскопа; во-вторых, понять услуги производителя сканирующего электронного микроскопа; кроме того, посмотрите технические параметры сканирующего электронного микроскопа.
В дополнение к выбору производителей сканирующих электронных микроскопов, при покупке соответствующего сканирующего электронного микроскопа также необходимо учитывать производительность и технические показатели сканирующего электронного микроскопа, может ли он удовлетворить наши повседневные потребности в анализе, а также необходимо учитывать различные аспекты при покупке. Только таким образом мы можем выполнить наши требования к тестированию и анализу.
