Как вычислить общее увеличение микроскопа?
Возможно, кто-то скажет, что это не очень простая проблема, но на самом деле она все же немного сложна.
Прежде всего приведем пример: при увеличении окуляра стереомикроскопа 10 раз, диапазоне увеличения корпуса переменного увеличения 0,7Х-4,5Х, а дополнительного объектива 2Х, то его оптическое увеличение составит 10 раз 0,7 раза 2. Минимальное увеличение этого микроскопа - 14 раз, а максимальное увеличение - 10 раз 4,5 раза 2, что равно 90. раз. Таким образом, общее оптическое увеличение этого стереомикроскопа составляет от 14 до 90 раз. Конечно, это только фактическое увеличение основного блока микроскопа. Далее идет цифровое увеличение микроскопа.
Например, если размер монитора составляет 17 дюймов и используется камера микроскопа размером 1/3, цифровое увеличение камеры микроскопа, как показано в таблице ниже, составит 72 раза. Формула расчета цифрового увеличения микроскопа следующая: исходя из приведенной выше конфигурации стереомикроскопа, переменное увеличение составляет 0,7Х-4,5Х, дополнительный объектив - 2Х, а окуляр камеры - 1 (если окуляр камеры не имеет увеличения, его не нужно включать в расчет). По формуле: объектив X увеличение окуляра камеры X цифровое увеличение минимальное цифровое увеличение составляет 0,7 раза 2 раза 1 раз 72, что равно 100,8 раза, а максимальное цифровое увеличение составляет 4,5 раза 2 раза 1 раз 72, что равно 648 раз. Диапазон цифрового увеличения составляет от 100,8 раза до 648 раз.
В этом случае появятся две формулы:
1. Общее оптическое увеличение=увеличение окуляра X увеличение объектива
2. Общее цифровое увеличение=объектива X увеличение окуляра камеры X цифровое увеличение
Эта формула подходит для любого микроскопа, будь то металлографический микроскоп, биологический микроскоп и т. д.
Знакомство с Пекинской лабораторией анализа отказов чипов
Лаборатория анализа отказов ИС
Лаборатория тестирования интеллектуальной продукции Beiruan Testing была введена в эксплуатацию в конце 2015 года и способна проводить испытательные работы в соответствии с международными, отечественными и отраслевыми стандартами. Он проводит комплексную работу по тестированию — от базовых микросхем до реальных продуктов, от физики до логики. Он предоставляет услуги по тестированию безопасности, такие как предварительная обработка чипов, атаки по побочным каналам, оптические атаки, инвазивные атаки, защита окружающей среды, атаки скачками напряжения, электромагнитная инжекция, инъекция радиации, физическая безопасность, логическая безопасность, функциональность, совместимость и многоточечная лазерная инжекция. В то же время он может моделировать и воспроизводить явление интеллектуального отказа продукта, выявлять причину отказа и предоставлять услуги по анализу и тестированию отказов, в основном включая станцию зондов, реактивное ионное травление (RIE), систему обнаружения микроутечек (EMMI), рентгеновское тестирование и систему наблюдения за вырезкой дефектов (FIB). Тестирование системы и другие контрольные эксперименты. Осуществлять оценку и анализ качества интеллектуальных продуктов, обеспечивая контроль качества микросхем, встроенного программного обеспечения и приложений интеллектуального оборудования.
