Как подготовить образцы для электронного микроскопа
Основными методами подготовки наблюдательных проб для просвечивающей электронной микроскопии являются:
1. Метод проекции
В условиях вакуума атомы тяжелых металлов с сильной способностью рассеивать электроны используются для распыления поверхности образца. Это создает сильный контраст между образцом и неокрашенной областью, а необработанная часть становится проекцией образца. По проекции можно понять трехмерную форму и высоту образца. Этот метод обычно используется для наблюдения за бактериальными жгутиками или вирусными частицами.
2. Метод негативного окрашивания.
Поскольку этот метод окрашивает фон образца, чтобы выделить образец, его называют негативным окрашиванием. Обычно образец окружен веществами с высокой электронной плотностью, которые не имеют никакой структуры и не реагируют с образцом, например натриевая соль фосфорновольфрамовой кислоты. При этом краситель также попадает внутрь объекта наблюдения. Таким образом, он может не только отображать форму, но и в определенной степени отражать внутреннюю структуру образца. С помощью этого метода можно наблюдать бактериальные клетки, вирусы и т. д.
3. Метод ультратонких срезов.
Это наиболее часто используемый метод, поскольку он позволяет просматривать тонкие структуры внутри клеток или других образцов. Обычно образец необходимо зафиксировать и обезвоживать в соответствии с определенной процедурой, затем залить в смолу в качестве подложки и разрезать на очень тонкие срезы с помощью ультрамикротома. Поскольку в просвечивающем электронном микроскопе можно наблюдать только срезы толщиной от 20 до 100 нанометров, в большинстве бактериальных образцов одну клетку необходимо разделить на 10–50 частей.
Выбирая электронный микроскоп, сначала проверьте, есть ли у производителя растрового электронного микроскопа полные сертификаты; во-вторых, проверьте договор производителя растрового электронного микроскопа; в-третьих, разобраться в услугах производителя растрового электронного микроскопа; и в-третьих, проверить технические параметры сканирующего электронного микроскопа.
Помимо выбора производителя растрового электронного микроскопа, при покупке соответствующего растрового электронного микроскопа также необходимо учитывать эксплуатационные и технические показатели растрового электронного микроскопа. Может ли он удовлетворить наши ежедневные потребности в анализе, при покупке также необходимо учитывать различные факторы. технические параметры, чтобы удовлетворить наши требования к тестированию и анализу.
