+86-18822802390

Свяжитесь с нами

  • Тел.: +8618822802390

  • Электронная-почта:admin@gvda-instrument.com

  • Ватсап: 8618822802390

  • Добавить: комната 610-612, коммерческое здание Хуачуанда, район 46, улица Цуйчжу, улица Синьань, Баоань, Шэньчжэнь.

Методы визуализации светлых и темных полей флуоресцентной микроскопии

Jun 13, 2024

Методы визуализации светлых и темных полей флуоресцентной микроскопии

 

(1) Визуализация в светлом поле (BFI), которая позволяет прошедшим электронам только в параксиальной области проходить через апертуру объектива, образуя темное изображение на ярком фоне. Чем меньше апертура объектива, тем выше контраст светлопольного изображения; (2) Визуализация в темном поле (DFI), которая позволяет только части рассеянного под большим углом луча или дифракционного луча кристалла проходить через апертуру объектива, блокируя при этом проходящий луч. Это создает яркое графическое изображение на темном фоне. Этот метод визуализации в темном поле может улучшить контрастность изображений и является важным методом визуализации.


Существует примерно четыре метода флуоресцентной микроскопии для получения изображений в темном поле: (1) поддержание вертикального освещения вдоль оптической оси при перемещении апертуры объектива; (2) Использование наклонного освещения для получения рассеянных лучей в направлении оптической оси называется визуализацией центрального темного поля (CDFI); 3. Апертура объектива с блокировкой центрального луча и круглой прозрачной зоной; (4) Используйте круглый прозрачный прожектор для обнаружения света и апертуру объектива с центральным круглым отверстием. Приведенные здесь * методы просты и удобны, но они используют электронную визуализацию в дальней части рукава, что приводит к большим аберрациям и плохому качеству изображения. Второй метод позволяет избежать вышеуказанных недостатков, но в апертуру объектива флуоресцентного микроскопа Leica попадает только небольшая часть рассеянных дифрагированных электронов, что приводит к снижению эффективности. Сторона апертуры часто бомбардируется большим количеством электронов, что может легко вызвать асимметричное загрязнение и повлиять на качество изображения. Круглый объектив в этом отношении был улучшен, но его недостатком является то, что его сложно изготовить и трудно добиться полной осевой симметрии. Учитывая относительно мягкие требования к системе освещения, можно принять последнее решение, которое включает добавление круглого отверстия в конденсаторе для обеспечения полого освещения образца. Эффект от этого устройства. Разрешение его изображения может быть близко к разрешению изображений в светлом поле, а контрастность значительно улучшена.

 

4 Microscope

Отправить запрос