Разрешение и классификация микроскопа

Разрешение и классификация микроскопа

Разрешение и классификация микроскопа D=0.61λ/N*sin( /2)

Д: Разрешение
λ: длина волны источника света
: Угол линзы объектива (угол раскрытия образца в точке на оптической оси относительно отверстия линзы объектива)

Если вы хотите улучшить разрешение, вы можете: 1. Уменьшить λ, например, используя ультрафиолетовый свет в качестве источника света; 2. Увеличьте азот, например, поместив его в кедровое масло; 3. Увеличить , то есть максимально уменьшить расстояние между линзой объектива и образцом .

Классификация микроскопов

Микроскопы классифицируются в соответствии с микроскопическими принципами и могут быть разделены на оптические микроскопы, электронные микроскопы и цифровые микроскопы.

Оптический микроскоп
Обычно он состоит из оптической части, осветительной части и механической части. Несомненно, оптическая часть является самой ответственной, она состоит из окуляра и объектива. Еще в 1590 году голландские и итальянские производители очков построили увеличительные приборы, похожие на микроскопы. Существует много типов оптических микроскопов, в основном микроскопы светлого поля (обычные оптические микроскопы), микроскопы темного поля, флуоресцентные микроскопы, фазово-контрастные микроскопы, лазерно-сканирующие конфокальные микроскопы, поляризационные микроскопы, дифференциально-интерференционно-контрастные микроскопы и инвертированные микроскопы.

электронный микроскоп
Электронные микроскопы имеют те же основные структурные особенности, что и оптические микроскопы, но они имеют гораздо более высокие возможности увеличения и разрешения, чем оптические микроскопы. Они используют поток электронов в качестве нового источника света для изображения объектов. С тех пор, как Руска изобрел первый трансмиссионный электронный микроскоп в 1938 году, в дополнение к постоянному улучшению характеристик самого трансмиссионного электронного микроскопа были разработаны многие другие типы электронных микроскопов. Например, сканирующий электронный микроскоп, аналитический электронный микроскоп, электронный микроскоп сверхвысокого напряжения и так далее. В сочетании с различными методами подготовки образцов с помощью электронного микроскопа можно проводить углубленные исследования структуры образца или взаимосвязи между структурой и функцией. Микроскопы используются для наблюдения изображений крошечных объектов. Он часто используется при наблюдении за биологией, медициной и мельчайшими частицами. Электронные микроскопы могут увеличивать объекты до 2 миллионов раз.

Настольные микроскопы в основном относятся к традиционным микроскопам, которые имеют чисто оптическое увеличение, с большим увеличением и хорошим качеством изображения, но они, как правило, имеют большие размеры и их неудобно перемещать.

портативный микроскоп
Портативные микроскопы в основном являются продолжением серии цифровых микроскопов и видеомикроскопов, разработанных в последние годы. В отличие от традиционного оптического увеличения, все ручные микроскопы имеют цифровое увеличение. Как правило, они портативные, маленькие и изысканные, и их легко носить с собой; и некоторые ручные микроскопы имеют свои собственные экраны, которые могут отображать изображения независимо от хост-компьютера, просты в эксплуатации, а также могут быть интегрированы. Некоторые цифровые функции, такие как поддержка фотосъемки, видеозаписи или сравнения изображений, измерения и другие функции.

Цифровой жидкокристаллический микроскоп был впервые разработан и произведен компанией Boyu. Этот микроскоп сохраняет четкость оптического микроскопа и сочетает в себе преимущества мощного расширения цифрового микроскопа, интуитивно понятного дисплея видеомикроскопа и простоты и удобства портативного микроскопа.

сканирующий туннельный микроскоп
Сканирующий туннельный микроскоп, также известный как «сканирующий туннельный микроскоп» и «туннельный сканирующий микроскоп», представляет собой прибор, который использует туннельный эффект в квантовой теории для обнаружения структуры поверхности веществ. Он был изобретен Гердом Биннингом (G.Binning) и Генрихом Рорером (H.Rohrer) в Цюрихской лаборатории IBM в Цюрихе, Швейцария, в 1981 году. Таким образом, два изобретателя сотрудничали с Эрнстом Руской и разделили Нобелевскую премию по физике 1986 года.

В качестве инструмента сканирующей зондовой микроскопии сканирующий туннельный микроскоп позволяет ученым наблюдать и определять местонахождение отдельных атомов с гораздо более высоким разрешением, чем его аналог атомно-силового микроскопа. Кроме того, сканирующий туннельный микроскоп может точно манипулировать атомами кончиком зонда при низкой температуре (4K), поэтому он является одновременно важным инструментом измерения и инструментом обработки в нанотехнологии.