Сканирующая электронная микроскопия и металлографическая микроскопия «идут вместе, но по-разному»
Сканирующие электронные микроскопы и металлографические микроскопы являются оптическими приборами. Многие люди любят использовать металлографический микроскоп в качестве сканирующего электронного микроскопа, но между ними есть большие различия. Неправильное использование только увеличит нагрузку на оборудование и ускорит износ металлографического микроскопа.
1. Прежде всего, различаются принципы: металлографический микроскоп использует принцип геометрической оптической визуализации для получения изображения, тогда как сканирующий электронный микроскоп использует различные физические сигналы, возбуждаемые тонко сфокусированными электронными лучами при сканировании поверхности образца для модуляции изображения. Поверхность образца бомбардируется пучками высокоэнергетических электронов, и на поверхности образца возбуждаются различные физические сигналы. Различные детекторы сигналов используются для приема физических сигналов и последующего преобразования их в информацию изображения.
2. Во-вторых, источники света разные: металлографический микроскоп использует видимый свет в качестве источника света для получения изображений, а сканирующий электронный микроскоп использует электронные лучи в качестве источника света для получения изображений.
3. Различное разрешение. Металлургические микроскопы подвержены интерференции и дифракции видимого света, поэтому разрешение может быть ограничено только 0.2-0.5 мкм. Поскольку сканирующий электронный микроскоп использует электронные лучи в качестве источника света, его разрешение может достигать 1-3 нм. Таким образом, наблюдение ткани под металлографическим микроскопом представляет собой анализ на микронном уровне, а наблюдение ткани под сканирующим электронным микроскопом — это анализ на наноуровне. Информация об образце, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа, богаче. .
4. Различная глубина резкости. Как правило, глубина резкости металлографического микроскопа составляет от 2-3 мкм, поэтому к гладкости поверхности образца предъявляются чрезвычайно высокие требования, поэтому процесс подготовки образца относительно сложен. Глубина резкости сканирующего электронного микроскопа в сотни раз больше, чем у металлографического микроскопа. Однако из-за ограничений принципа визуализации поверхность образца должна быть проводящей, поэтому поверхность образца должна быть проводящей.
По сравнению с металлографическими микроскопами сканирующие электронные микроскопы имеют широкий регулируемый диапазон увеличения, высокое разрешение изображения, большую глубину резкости, насыщенные трехмерные изображения и могут получать более полную информацию об образце. Их применение глубже и обширнее, чем металлографические микроскопы.
