Метод темного поля для наблюдения частиц в микроскоп
1. Полупрозрачное освещение
Биологические микроскопы часто используются для наблюдения прозрачных образцов и требуют освещения проходящим светом. Существует два типа способов освещения.
(1) Источник света критического освещения отображается на плоскости объекта после прохождения через конденсорную линзу, как показано на рисунке 5. Если не учитывать потерю световой энергии, яркость изображения источника света будет такой же, как и яркость самого источника света. Следовательно, этот метод эквивалентен размещению источника света на плоскости объекта. Очевидно, что при критическом освещении, если поверхностная яркость источника света неравномерна или демонстрирует очевидные мелкие структуры, такие как нити, это серьезно повлияет на эффект микроскопического наблюдения, что является недостатком критического освещения. Решение состоит в том, чтобы разместить перед источником света молочно-белые и теплопоглощающие цветные фильтры, чтобы сделать освещение более равномерным и избежать длительного-воздействия источника света, которое может повредить досматриваемый объект. При освещении проходящим светом угол апертуры изображающего луча объектива определяется углом апертуры сфокусированного зеркального квадратного луча. Чтобы полностью использовать числовую апертуру объектива, фокусирующая линза должна иметь такую же или немного большую числовую апертуру, что и объектив.
(2) Недостаток неравномерной освещенности поверхности при критическом освещении кольского освещения можно устранить при кольском освещении. Добавьте вспомогательный прожектор 2 между источником света 1 и прожектором 5, как показано на рисунке 6. Видно, что, поскольку вспомогательная конденсорная линза 2 (также известная как дуршлаг), равномерно освещаемая источником света, не используется непосредственно для изображения образца 6, поле зрения (образца) объектива освещается равномерно.
2. Освещение падающим светом
При наблюдении в металлографический микроскоп непрозрачных объектов, например металлических шлифовальных пластин, подсветку часто применяют сбоку или сверху. В этот момент на поверхности наблюдаемого объекта нет стеклянного покрытия и формирование изображения образца происходит за счет попадания отраженного или рассеянного света в объектив. Как показано на рисунке 7.
3. Метод освещения для наблюдения частиц в темном поле зрения.
Метод темного поля можно использовать для наблюдения ультрамелких частиц. Так называемые-сверхмелкие частицы — это крошечные частицы, размер которых меньше предела разрешения микроскопа. Принцип темнопольного освещения заключается в том, чтобы предотвратить попадание основного света освещения в объектив, и только свет, рассеянный частицами, может попасть в объектив для визуализации. Поэтому изображение ярких частиц дается на темном фоне, и хотя фон поля зрения темный, контраст хороший, что позволяет улучшить разрешение.
