Метод поверки металлографических микроскопов
1. Прослеживаемость измерений
Используя в качестве образца шкалу микроскопа 0,01 мм, соберите микроскопические изображения чешуек с объективами 3,2, 6,3, 12,5, 25 и 50 раз и линзами с промежуточным переменным увеличением 8, 10, 12,5, 16 и 20 раз соответственно и распечатайте их при том же увеличении. На рис. 1 показано микроскопическое изображение в масштабе 100х, полученное под объективом 12,5х и объективом промежуточного переменного увеличения 8х, с диаметром поля зрения 0,8см. Собранное изображение четкое, без видимых невооруженным глазом аберраций и геометрических искажений, а свет в поле зрения однороден. Измерьте линию шкалы штангенциркулем с шагом 0,02 мм и преобразуйте ее в фактическое увеличение, соответствующее требованиям JB/T8230.6-1999 «Увеличение микроскопа». Если теоретическое увеличение равно 100, фактическое увеличение равно 202,4; Теоретическое увеличение составляет 500, а фактическое увеличение — 497,8. Относительные ошибки при теоретическом увеличении составляют 1,8%, 0,12% и 0,44% соответственно, а все относительные ошибки<2%
Ширина левой однотипной масштабной линии составляет 2,24 мкм, средняя ширина — 2,49 мкм, правая — 2,56 мкм. Относительная ошибка между максимальным и минимальным значениями * составляет 4,6%, что указывает на то, что коэффициент увеличения во всем поле зрения соответствует требованиям стандарта JB/T8230.6-1999 «Увеличение микроскопа».
Теоретическое расстояние шкалы микроскопа 0,01 мм составляет 0,01 мм. С помощью программного обеспечения для количественного и полуколичественного анализа изображений расстояние между линиями шкалы на рисунке 1 измерялось 5 раз, а результаты измерений показаны в таблице 2. Видно, что относительная погрешность между 5 результатами измерений и теоретическим значением составляет от 1,10% до 1,37%, что указывает на то, что оно также соответствует требованиям стандарта JB/T8230.6-1999.
При использовании шкалы микроскопа размером 0,01 мм в качестве образца изображение в масштабе микроскопа, полученное системой цифровой фотографии, является четким и визуально наблюдаемым без аберраций или искажений. Измерение увеличения, расстояния и ширины линии шкалы соответствует стандартным требованиям, что указывает на то, что измерения микроскопа и сконфигурированной системы цифровой фотографии можно отследить до Международной системы единиц (СИ). Он соответствует требованиям металлографического анализа и контроля, а также требованиям ISO/IEC 17025:2005 по прослеживаемости измерений.
2 Микроструктура
Микроструктура образцов ковкого чугуна, собранных с помощью системы цифровой визуализации, показана на рисунке 2. Увеличение коллекции составляет 1000 раз. Видно, что собранная микроструктура четкая. Увеличение при печати установлено на 1000, а длина линейки 0,02 мм на изображении измеряется штангенциркулем с нониусом 0,02 мм, что составляет 20,24 мм. При преобразовании в увеличение 012 относительная погрешность между увеличением и теоретической настройкой составляет 1. 2 % в соответствии с JB/T 8230. Требование 6-1999. Микроструктура, полученная с помощью системы цифровой визуализации, соответствует требованиям металлографического анализа и контроля.
3 Измерение длины
Используйте программное обеспечение для количественного и полуколичественного анализа изображений, чтобы измерить расстояние до линии шкалы на рисунке 1. Начиная с левой * длинной линии шкалы, измерьте расстояние до линий шкалы на 30 теоретических расстояниях 0,01, 0,02,..., 0,29, 0,30 мм слева направо. Результаты измерений представлены в таблице 3, и видно, что относительная погрешность между результатами измерений и теоретическими значениями составляет менее 2%. Это программное обеспечение отвечает требованиям металлографического анализа и контроля результатов измерения длины.
Сравнение 4 спектров
Взяв в качестве примера степень сфероидизации 20 стальных шариков, подтвердите сравнение спектров программного обеспечения для количественного и полуколичественного анализа изображений. Сначала были собраны изображения 20 стальных конструкций. После исследования изображения были четкими, а размер поля зрения контролировался на уровне 71×97 мм. Путем сравнения спектров уровень сфероидизации стального шарика 20 был определен как равный
4. Увеличение стандартного спектра по DL/T 674-1999 «Оценка сфероидизации перлита в стали 20 для тепловых электростанций» составляет 500, а размер спектра сфероидизации 4 уровня составляет 68 мм × 98 мм. Поместите собранное изображение и стандартный спектр в одно поле зрения, скопируйте их на экран и распечатайте с любым увеличением в одном и том же интерфейсе. Измерьте увеличение двух изображений, стандартный спектр — 316 раз, собранное изображение — 308 раз, относительная ошибка — -2. 53%, измерьте размер двух изображений, стандартный спектр — 43 × 60 мм. Видно, что образец изображения соответствует требованиям как по увеличению, так и по размеру поля зрения.
