Почему лазерный сканирующий конфокальный микроскоп обеспечивает лучшее качество изображения?
Принцип лазерной конфокальной микроскопии заключается в том, что луч света, излучаемый светодиодным источником света, фокусируется на поверхности образца после прохождения через пористый диск и линзу объектива. После этого луч света отражается обратно в измерительную систему через поверхность образца. При повторном прохождении через отверстие MPD отраженный свет сохранит только сфокусированное пятно. Наконец, луч света отражается светоделителем и отображается на камере.
Лазерный конфокальный микроскоп использует технологию лазерного сканирования. **По сравнению с источником света широкого-спектра традиционных микроскопов, технология лазерного сканирования позволяет точно находить и фокусировать определенные области образца, тем самым улучшая разрешение и точность изображения. Между тем, технология лазерного сканирования может устранить рассеяние и фоновые сигналы в образце, тем самым улучшая контрастность изображения. В то же время монохроматичность лазеров делает изображение более четким.
Лазерный конфокальный микроскоп имеет большую оптическую апертуру.
В лазерной конфокальной микроскопии в качестве детекторного элемента используется высокочувствительный фотоумножитель, который может проявлять высокую чувствительность к слабым сигналам флуоресценции. Он также может устранить фоновый шум за счет сужения диапазона возбуждения и использования оптического среза. **Лазерный конфокальный микроскоп, оснащенный высокочувствительными фотодиодными детекторами, может быстро и точно обнаруживать оптические сигналы и преобразовывать их в электрические сигналы.
В отличие от традиционного оптического наблюдения, фотодиодные детекторы могут обнаруживать отдельные фотоны, что делает изображения более чувствительными и точными. Этот высокочувствительный-детектор также позволяет получать четкие изображения в условиях низкой освещенности.
Лазерный конфокальный микроскоп основан на сопряженном конфокальном принципе точечного источника света с продольным разрешением нанометрового уровня. В сочетании с высокоскоростным-модулем сканирования профессиональное программное обеспечение для анализа имеет функции многозонного и автоматического измерения, которые позволяют выполнять быстрые и автоматизированные измерения, а также предоставляют ряд параметров размера контура, таких как высота, ширина и угол, для характеристики качества поверхности.
