Разница между электрон микроскоп и металлография микроскоп
Принцип Сканирование Электрон Микроскоп
Scanning ElectronMicroscope (SEM), abbreviated as SEM, is a complex system that condenses electron-optical technology, vacuum technology, fine mechanical structure and modern computer control technology. SEM is an accelerated high-voltage effect of the electron gun emitted by the electron through a multi-stage electromagnetic lens convergence into a small beam of electrons. Scanning in the specimen surface, excitation of a variety of information, through the reception of this information, amplification and display imaging, in order to analyse the specimen surface. The interaction of the incident electrons with the specimen produces the types of information shown in Figure 1. The two-dimensional intensity distribution of this information varies with the characteristics of the specimen surface (these characteristics are surface morphology, composition, crystal orientation, electromagnetic properties, etc.), is a variety of detectors to collect the information in order, the ratio of the information converted into a video signal, and then transmitted to the simultaneous scanning of the picture tube and modulation of its brightness, you can get a response to the surface of the specimen scanning map. If the signal received by the detector is digitised and converted into a digital signal, it can be further processed and stored by a computer. Scanning electron microscopes are mainly designed for the observation of thick block specimens with large height differences and rough unevenness, and are therefore designed to highlight the depth-of-field effect, and are generally used to analyse fractures as well as natural surfaces that have not been artificially treated.
Электрон микроскоп и металлургический микроскоп
Первый, свет источник is different: металлургический микроскоп использование видимый свет как a свет источник, сканирование электрон микроскоп использование электрон луч как свет источник визуализация.
Во-вторых, принцип is different: металлургия микроскоп использование геометрия оптика визуализация принцип для визуализация, сканирование электрон микроскоп использование высокая энергия электрон пучок бомбардировка из образец поверхность, возбуждение из а разнообразие из физические сигналы на поверхность из из образец, и потом использование из различный сигнал детекторы к принятый физический сигналы преобразованный в образ информация.
Третий, разрешение is different: металлургический микроскоп из из интерференция дифракция of свет, the разрешение может только быть ограниченный to 0.2-0.5um между. Сканирование электрон микроскоп потому использование электрон пучок как а свет источник, разрешение может досягать между 1-3nm, so ткань наблюдение из металлургический микроскоп принадлежит к микрон уровень анализ, сканирование электрон микроскоп ткань наблюдение принадлежит к нанометр уровень анализ анализ.
Fourth, the depth of field is different: general metallurgical microscope depth of field between 2-3um, so the surface smoothness of the sample has a very high degree of requirements, so its sampling process is relatively complex. While the scanning electron microscope has a large depth of field, large field of view, imaging rich three-dimensional sense, can directly observe a variety of specimens uneven surface microstructure.
