Как выбрать микроскоп, соответствующий вашим потребностям?
В области научных исследований и аналитических испытаний микроскопы, несомненно, являются незаменимыми инструментами и известны как «глаз науки». Оно позволяет людям исследовать микроскопический мир, который невозможно различить невооруженным глазом, обеспечивая ключевую технологическую поддержку в таких областях, как исследование материалов, биомедицина и промышленные испытания. Столкнувшись с различными исследовательскими потребностями, выбор подходящего микроскопа стал проблемой для многих исследователей.
В этом микроскопе в качестве источника света используется электронный луч-высокого давления, а изображение фокусируется с помощью электромагнитной линзы. Его увеличение может достигать миллионов раз, а разрешение может даже достигать уровня ангстрем (Å) (1 Å равен 0,1 нанометра), что достаточно для наблюдения структурных особенностей на атомном уровне.
Принцип работы просвечивающей электронной микроскопии аналогичен принципу оптической микроскопии, но в ней используются электронные лучи вместо видимого света и электромагнитные линзы вместо оптических линз. Благодаря тому, что электронные волны намного меньше длины волны видимого света, согласно теории дифракционного предела Аббе, их разрешение было значительно улучшено, что позволило достичь окончательного исследования микроскопического мира.
Современная технология трансмиссионной электронной микроскопии быстро развивалась, что привело к появлению различных усовершенствованных моделей: сканирующая трансмиссионная электронная микроскопия (СТЭМ) сочетает в себе преимущества как режима сканирования, так и режима передачи; Сверхбыстрая просвечивающая электронная микроскопия (UTEM) может использоваться для изучения сверхбыстрых динамических процессов; Просвечивающая электронная микроскопия замороженного состояния (FTEM) особенно подходит для изучения биомолекул; Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) in situ позволяет наблюдать изменения в-образцах в реальном времени под воздействием внешних раздражителей; Просвечивающая электронная микроскопия с коррекцией сферических аберраций (CTEM) еще больше повышает разрешение за счет коррекции аберраций линз.
Следует отметить, что просвечивающая электронная микроскопия, как инструмент высокой-прецизионной точности, отличается высокой стоимостью, сложной эксплуатацией и строгими требованиями к подготовке проб. Образец должен быть приготовлен в виде чрезвычайно тонких (обычно менее 100 нанометров) срезов, чтобы обеспечить проникновение электронного луча.
сканирующий электронный микроскоп
Если масштаб исследования находится в диапазоне от десятков нанометров до миллиметров и в основном фокусируется на характеристиках морфологии поверхности образца, более подходящим выбором является сканирующая электронная микроскопия (СЭМ). Этот микроскоп имеет широкий диапазон увеличения (обычно от 10x до 300000 раз), что может удовлетворить большинство потребностей в морфологических наблюдениях, элементном анализе, анализе микроструктуры и т. д.
Принцип работы сканирующей электронной микроскопии заключается в сканировании поверхности образца по точкам с помощью электронного луча, а затем в обнаружении таких сигналов, как вторичные электроны и обратно рассеянные электроны, генерируемые образцом, для формирования изображения.
