Метод освещения для наблюдения частиц с использованием темного поля
Ультрамикроскопические частицы можно наблюдать с помощью метода темного поля. Так называемые ультрамикроскопические частицы относятся к тем крошечным частицам, размер которых меньше предела разрешения микроскопа. Принцип темнопольного освещения заключается в следующем: не позволяйте основному свету освещения попадать в объектив, и только свет, рассеянный частицами, может попадать в объектив для формирования изображения.
Поэтому изображение ярких частиц дается на темном фоне. Хотя фон поля зрения темный, контрастность (контрастность) очень хорошая, что позволяет улучшить разрешение.
Подсветку темного поля можно разделить на одностороннюю и двустороннюю.
(1) Одностороннее освещение в темном поле На рис. 8 представлена схема одностороннего освещения в темном поле. Из рисунка видно, что после отражения света, излучаемого осветителем 2, непрозрачным листом образца 1, основной свет не попадает в объектив 3, а попадающий в объектив свет в основном рассеивается частицами или неравномерно подробности. Очевидно, что эта односторонняя темнопольная подсветка эффективна для наблюдения за существованием и движением частиц, но не эффективна для воспроизведения деталей объектов, т. е. имеет место явление «искажения».
(2) Двустороннее освещение в темном поле Двустороннее освещение в темном поле может устранить дефект искажения, вызванный односторонним освещением. Перед общим трехлинзовым конденсором поместите кольцевую диафрагму, как показано на рисунке 9, чтобы реализовать двухстороннее освещение темного поля. Жидкость погружена между последней частью конденсора и объективным стеклом, а пространство между покровным стеклом и объективом остается сухим. Поэтому кольцеобразный пучок, проходящий через конденсор, полностью отражается в покровном стекле и не может попасть в линзу объектива, образуя петлю, как показано на рисунке. В линзу объектива попадает только свет, рассеянный частицами на образце, образуя двухстороннее темнопольное освещение.
