Несколько направлений развития просвечивающей электронной микроскопии в будущем
Электронная микроскопия просвечивающая электронная микроскопия проецирует ускоренный и сфокусированный электронный луч на очень тонком образце, где электроны сталкиваются с атомами в образце и изменяют направление, что приводит к рассеянию сплошного угла. Размер угла рассеяния связан с плотностью и толщиной образца, поэтому он может образовывать изображения с разной яркостью и темнотой. Изображения будут отображаться на устройствах визуализации (таких как флуоресцентные экраны, пленки и компоненты фоточувствительной связи) после увеличения и фокусировки.
В настоящее время существует несколько важных направлений разработки для просвечивающей электронной микроскопии. Улучшение разрешения. Разрешение всегда было целью и направлением развития просвечивающей электронной микроскопии. Разработка монохроматоров нового поколения и корректоров аберрации может дополнительно улучшить энергетическое разрешение и пространственное разрешение просвечивающей электронной микроскопии, особенно для электронной микроскопии низкого давления. Во-вторых, разработать технологию передачи электронной микроскопии на месте. Электронная микроскопия в in situ имеет важные применения в областях синтеза материала, химического катализа, наук о жизни и энергетических материалах. Он может наблюдать и контролировать прогресс газофазных и жидких фазных реакций в режиме реального времени в атомном масштабе, тем самым изучая фундаментальные механизмы реакций и другие научные проблемы. В -третьих, это может быть более широко применено при изучении структуры биомолекул. Широкое применение крио -электронной микроскопии при изучении структур биомакромолекул приведет к непрерывному развитию технологии крио электронной микроскопии. Применение крио -электронной микроскопии в области биологии получает все больше внимания, становясь связью и мостом между биомолекулами и клетками.
С непрерывным развитием и прогрессом электронной микроскопии разрешение просвечивающей электронной микроскопии достигла уровня Sub Angstrom, а электронная микроскопия стала необходимой инструментом характеристики в области материаловедения. За последние 80 лет после рождения просвечивающей электронной микроскопии люди решили много научных проблем с помощью просвечивающей электронной микроскопии. Электронная микроскопия трансмиссии также постоянно развивается и улучшается, со все более полными функциями и улучшением производительности.
